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當前位置：九域半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司>>硅片方阻測試儀>>硅片電阻率測試儀>> 金剛石厚度TTV測試儀
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地蘇州市
更新時間：2025-04-14 15:17:12瀏覽次數(shù)：244次
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| 價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,電氣 |
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?金剛石厚度測試的方法主要包括以下幾種?：
?X射線檢測?：將樣品放置在X射線檢測機的樣品室載物臺上，曲面朝上，用美工膠紙固定。調(diào)整工作電壓至90KV，工作電流100μA，選擇合適的放大倍數(shù)拍照、測量并保存數(shù)據(jù)。X射線檢測可以清晰地顯示金剛石復(fù)合片的邊界和各層厚度?1。
?超聲檢測?：使用水浸超聲掃描顯微鏡設(shè)備進行檢測。將金剛石復(fù)合片放入設(shè)備探頭正下方，校準探頭及工件參數(shù)，進行超聲檢測。超聲C掃描呈像可以清晰地顯示金剛石復(fù)合片的厚度和內(nèi)部缺陷情況，如裂痕和空洞等?2。
?三維工業(yè)CT/X-RAY?：通過三維工業(yè)CT或X射線掃描設(shè)備，可以提供高精度的內(nèi)部缺陷檢測。這種方法適用于芯片和電子器件的內(nèi)部缺陷檢測，能夠精準定位內(nèi)部問題?
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