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PHI X-tool 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀一束高能初級離子轟擊樣品表面激發(fā)出原子和分子碎片只一小部分激發(fā)出的粒子以離子的狀態(tài)離開表面，被質(zhì)量分析器探測出來對于...
美國PHI 高性能飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS 中，根據(jù)分子結(jié)構(gòu)反映的質(zhì)譜，能更詳細的對化學結(jié)構(gòu)進行分析。
PHI X射線光電子能譜儀PHI Genesis 500是新一代配置了全自動多功能掃描聚焦X 射線光電子能譜，易操作式多功能選配附件，能夠?qū)崿F(xiàn)全自動樣品傳送停放...
飛行時間二次離子質(zhì)譜儀PHI nano TOF3+，先進的多功能TOF-SIMS具有更強大的微區(qū)分析能力，更加出色的分析精度詳細介紹PHI nanoTOF3+ ...
俄歇電子能譜儀PHI公司的PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺設(shè)計的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設(shè)備能分析納米級特征區(qū)域,超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)表界面的元...
PHI 硬X射線光電子能譜儀主要應(yīng)用于電池、半導體、光伏、新能源、有機器件、納米顆粒、催化劑、金屬材料、聚合物、陶瓷等固體材料及器件領(lǐng)域。用于全固態(tài)電池、半導體...
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