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薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品品牌：Frontier Semiconductor產(chǎn)品型號(hào)：薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測(cè)儀產(chǎn)品描述：光學(xué)設(shè)計(jì)減少圖形襯底對(duì)激光的干涉。

型號(hào)： Frontier ... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/23 16:10:43 對(duì)比

薄膜應(yīng)力測(cè)試儀晶元彎曲測(cè)試儀基底翹曲分析儀薄膜裂紋測(cè)試儀半導(dǎo)體薄膜分析
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備 FSM 500TC 200mm 高溫應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)可以幫助研發(fā)和工藝工程師評(píng)估薄膜的熱力學(xué)性能和穩(wěn)定性特性，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體，三-五族...

型號(hào)： FSM 500TC 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 10:32:36 對(duì)比

薄膜應(yīng)力測(cè)試儀晶元彎曲測(cè)試儀基底翹曲分析儀薄膜裂紋測(cè)試儀半導(dǎo)體薄膜分析
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備 FSM推出基于商業(yè)化應(yīng)用的激光掃描光學(xué)杠桿（Optilever）技術(shù)，主要應(yīng)用于薄膜應(yīng)力和晶圓彎曲測(cè)量。該設(shè)備頻繁使用在分析解決諸如...

型號(hào)：所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2023/5/22 10:08:02 對(duì)比

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