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當(dāng)前位置：上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?/a>>>產(chǎn)品展示>>物理特性儀器>>測(cè)厚儀
X射線鍍層測(cè)厚儀?M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺(tái)式X射線鍍層測(cè)厚儀，結(jié)構(gòu)緊湊、占用空間小。M1 ORA能準(zhǔn)確測(cè)定珠寶類合金的元素組成，分析元素范圍：原子序數(shù)2...
鍍層測(cè)厚儀M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對(duì)大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號(hào)（鈦）-92號(hào)（鈾）中的元素。分...
反射膜厚儀當(dāng)一束光入射到薄膜表面時(shí)，薄膜上表面和下表面的反射光會(huì)發(fā)生干涉，干涉的發(fā)生與薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)等有關(guān)，反射光譜薄膜測(cè)厚儀就是基于此原理來(lái)測(cè)量薄膜厚度。
美國(guó)DEFELSKO POSITECTOR 200B/A超聲波涂層測(cè)厚儀是直接測(cè)量，無(wú)需校準(zhǔn)即可滿足大部分應(yīng)用的超聲波涂層測(cè)厚儀。
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