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復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

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產(chǎn)品分類(lèi)品牌

全自動(dòng)清潔度分析系列

臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

臺(tái)式掃描電鏡

SEM/TEM 樣品制備設(shè)備: 離子精修儀-TEM樣品精修離子減薄儀-TEM 樣品制備離子研磨儀-SEM樣品制備

掃描電鏡配件: 拓展硬件拓展軟件

VSParticle: 納米印刷沉積系統(tǒng)

原子層沉積系統(tǒng): P 系列粉末原子層沉積系統(tǒng)

原位樣品桿: Arctic 原位冷凍熱電桿 Stream 原位液相加熱/加電桿 Lightning 原位熱電桿 Wildfire 原位加熱桿 Climate 原位氣相加熱桿

臺(tái)式顯微 CT: NXL 臺(tái)式大倉(cāng)顯微CT N90 高分辨納米CT N60 緊湊型臺(tái)式顯微 CT N70 通用型臺(tái)式顯微 CT N80 高分辨臺(tái)式顯微CT

可視化顆粒檢測(cè)

雙光子顯微鏡

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全部熱門(mén) 品牌

掩膜版｜保護(hù)膜表面顆粒物快速檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FM-PR-PDS
掩膜版｜保護(hù)膜表面顆粒物快速檢測(cè)系統(tǒng)（PDS）為掩膜版、掩膜版保護(hù)膜以及基板（襯底）制造工藝，提供高通量的表面顆粒污染檢測(cè)服務(wù)。該系統(tǒng)對(duì)粒徑大于 0.1&#...
型號(hào)： FM-PR-PDS 品牌：Fastmicro所在地：上海市 對(duì)比

顆粒檢測(cè)

2025/6/3 14:04:02248
晶圓表面顆粒物快速檢測(cè)系統(tǒng)（PDS) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FM-W-PDS
Fastmicro 晶圓表面顆粒物快速檢測(cè)系統(tǒng)（PDS)，專(zhuān)為各行業(yè)產(chǎn)品表面顆粒污染物直接測(cè)量而設(shè)計(jì)，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體領(lǐng)域的晶圓、薄膜及光罩檢測(cè)，也可用于顯示市...
型號(hào)： FM-W-PDS 品牌：Fastmicro所在地：上海市 對(duì)比

顆粒檢測(cè)

2025/6/3 13:58:13243
儀器表面顆粒物分析儀參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FM-PS-SAS-V01
Fastmicro 儀器表面顆粒物分析儀，是一款基于“膠帶粘取"采樣技術(shù)的表面污染檢測(cè)工具，可通過(guò)間接測(cè)量方式識(shí)別小至 0.5um 的顆粒污染物。其配備的專(zhuān)用 ...
型號(hào)： FM-PS-SAS... 品牌：Fastmicro所在地：上海市 對(duì)比

顆粒檢測(cè)

2025/6/3 13:52:40210
環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀（PFS）參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：FM-PS-PFS-V02
Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀（PFS），專(zhuān)為潔凈室顆粒沉積速率測(cè)量而研發(fā)，支持秒級(jí)間隔的數(shù)據(jù)采集，精準(zhǔn)測(cè)量 0.5 um 以上顆粒。結(jié)合直觀易用的...
型號(hào)： FM-PS-PFS... 品牌：Fastmicro所在地：上海市 對(duì)比

顆粒檢測(cè)

2025/6/3 13:43:42231