11當前位置：復(fù)納科學儀器（上海）有限公司>>技術(shù)文章
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2025
03-20突破傳統(tǒng)檢測瓶頸！顯微CT如何助力高效農(nóng)業(yè)研究？支持付費測試！
農(nóng)業(yè)科學的發(fā)展依賴于高效、精準的檢測技術(shù)，以優(yōu)化作物生長環(huán)境、提高種子質(zhì)量、改良農(nóng)作物品種。傳統(tǒng)的農(nóng)業(yè)檢測方法，如光學顯微鏡、石蠟切片、激光共聚焦顯微鏡等，往往局限于二維成像，且檢測過程耗時費力，難以...2025
03-192025
03-182025
03-18飛納鋼鐵夾雜物系統(tǒng)助力高錳鋼性能分析：從微觀洞察到工藝優(yōu)化的全鏈條賦能
高錳鋼（HighManganeseSteel）是一種以錳（11%-14%）和碳（1.0%-1.4%）為主要合金元素的高強度合金鋼，因其加工硬化特性（受沖擊或壓力后表面硬化，內(nèi)部保持韌性）和優(yōu)異的耐磨性...2025
03-17響應(yīng)原子制造戰(zhàn)略，F(xiàn)orge Nano 領(lǐng)航粉末 ALD 新紀元！支持代包覆服務(wù)！
工業(yè)和信息化部在《原子級制造揭榜掛帥任務(wù)榜單》將“粉體原子級包覆技術(shù)與裝備”列為重點攻關(guān)方向，明確提出“到2026年實現(xiàn)10kg/批次”的目標，直指行業(yè)痛點。粉體原子層沉積（ALD）技術(shù)，憑借其原子級...2025
03-13用戶成果分享｜劍橋大學《EES》:Al?O? 涂層到底憑什么拯救NMC811
發(fā)表文章：IdentificationofthedualrolesofAl2O3coatingsonNMC811-cathodesviatheoryａndexperiment發(fā)表期刊：Energy&E...2025
03-05終于有人把 ECCI 講透了！一文搞懂掃描電鏡背散射電子通道襯度成像！
背散射電子成像掃描電鏡成像主要是利用樣品表面的微區(qū)特征，如形貌、原子序數(shù)、晶體結(jié)構(gòu)或位向等差異，在電子束作用下產(chǎn)生不同強度的物理信號，使熒光屏上不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的亮度，從而獲得具有一定襯度的圖像。...2025
02-252025
02-19臺式掃描電鏡在醫(yī)學領(lǐng)域中的應(yīng)用日益廣泛
臺式掃描電鏡(ScanningElectronMicroscopy，SEM)是一種利用電子束掃描樣品表面并收集二次電子信號來生成高分辨率圖像的顯微鏡，主要由電子槍、電磁透鏡系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)和探測...2025
02-172025 科研開局，沒這六大儀器？你可能已經(jīng)落后了！
選型指南隨著2025年國家自然科學基金原創(chuàng)探索計劃項目申請指南的發(fā)布，科研界再次迎來了一波新的機遇與挑戰(zhàn)！面對這些機遇，除了創(chuàng)新的學術(shù)思想，選擇合適的工具更您助您掌握通向成功的鑰匙。?復(fù)納科技六大明星...2025
01-222025
01-202025
01-072025
01-06一文了解離子研磨儀制備掃描電鏡（SEM）樣品的詳細流程與原理
離子研磨儀制備掃描電鏡（SEM）樣品的詳細流程與原理離子研磨是一種高精度的樣品表面制備技術(shù)，廣泛用于需要高分辨率顯微觀察的樣品制備，特別是那些容易受機械應(yīng)力影響的材料，如半導(dǎo)體、陶瓷、復(fù)合材料等。以下...2025
01-032025
01-02數(shù)學為什么重要？用公式解釋掃描電鏡低電壓觀察不導(dǎo)電樣品的優(yōu)勢
什么是荷電效應(yīng)？掃描電子顯微鏡主要用于樣品表面微觀形貌觀察，但在觀察樣品過程中經(jīng)常由于荷電效應(yīng)使得圖像異常變亮、畸變，甚至出現(xiàn)圖像模糊的情況，嚴重影響成像質(zhì)量。圖1固體絕緣材料的電子發(fā)射特性曲線。橫坐...2024
12-302024
12-25ALD 用戶經(jīng)典文獻分享｜非均勻 ALD 涂層包覆 NCM 工藝的界面研究
作者：科羅拉多大學AmandaL.Hoskins等人文章：NonuniformGrowthofSub?2NanometerAtomicLayerDepositedAluminaFilmsonLithi...2024
12-18顯微CT有多神？輕松“看透”材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)，讓材料“開口說話”
在材料科學和工程領(lǐng)域，對材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的深入理解對于新材料的開發(fā)和現(xiàn)有材料性能的提升至關(guān)重要。顯微計算機斷層掃描（Micro-CT）技術(shù)作為一種先進的成像工具，能夠在不破壞樣品的情況下，揭示材料內(nèi)部的微...2024
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