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Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀 詳細(xì)摘要： Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-09-02 參考價(jià)： 面議 在線留言
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美國(guó)布魯克海文儀器公司 |
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