日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)

ZETA電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網(wǎng)狀結構分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴大了生命科學領域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。

● 可對應從稀薄到濃厚溶液（~40%）寬濃度范圍的粒徑和ZETA電位測量

● 通過多角度測定，可測量分辨率更高的粒徑分布

● 可以在高鹽濃度下測量平板樣品的ZETA電位

● 通過靜態(tài)光散射法可測量粒子的濃度

● 能過動態(tài)光散射法可測量微流變學

● 通過測量凝膠樣品在多個點的散射強度和擴散系數(shù)，可以分析凝膠的網(wǎng)絡結構和不均勻性。

● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內(nèi)進行測量

● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進行解析

● 通過樣品池內(nèi)的實測電氣浸透流圖分析，提供高精度的ZETA電位測量結果,

● 可安裝熒光濾光器(選配)

日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)

日本大塚otsuka SMART光學膜厚計測厚儀

可攜帶至現(xiàn)場的手持式，可測量0.1μm單位，具有形狀的樣品也可非破壞的測量。 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜。與桌上型光學膜厚儀相比，Smart膜厚儀在“現(xiàn)場"以非破壞式直接量測樣品，且可以量測特殊形狀樣品。與接觸式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品，也不會因為用戶不同而產(chǎn)生誤差且遠高于接觸式膜厚計的量測精度。與渦電流/電磁式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不需要制作檢量線，且可以量測非金屬基材并且得到絕對值！