無(wú)損檢測(cè)電鍍層厚度菲希爾x熒光測(cè)厚儀

無(wú)損檢測(cè)電鍍層厚度菲希爾x熒光測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），多可同時(shí)測(cè)定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。

菲希爾x射線熒光測(cè)厚儀特點(diǎn)

菲希爾x熒光測(cè)厚儀根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測(cè)量鍍層厚度

XULM的最小測(cè)量點(diǎn)約0.1 mm；XUL最小測(cè)量點(diǎn)約0.5 mm

鎢X射線管或鎢微聚焦管（XULM）作為X射線源

采用經(jīng)實(shí)踐驗(yàn)證的短測(cè)量時(shí)間的比例接收器

準(zhǔn)直器：固定或4個(gè)自動(dòng)切換

初級(jí)過(guò)濾器：固定或3個(gè)自動(dòng)切換

固定樣品臺(tái)或手動(dòng)XY載物臺(tái)

用于光學(xué)觀察測(cè)量點(diǎn)的攝像頭

經(jīng)認(rèn)證的全面防護(hù)設(shè)計(jì)；

菲希爾XULM應(yīng)用

電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產(chǎn)的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護(hù)

電鍍液中金屬含量的分析

裝飾性涂層 Cr/Ni/Cu/ABS

>電子行業(yè)連接器和觸點(diǎn)上的鍍層

德國(guó)菲希爾MPO/MP0涂層測(cè)厚儀概述：

MPO涂層測(cè)厚儀為德國(guó)生產(chǎn)涂層測(cè)厚儀，MPO涂層測(cè)厚儀集合了磁性測(cè)厚儀（P-MP0D）和渦流測(cè)厚儀（I-MP0D）兩種儀器的功能，MPO涂層測(cè)厚儀是D-MP0D，MPOR型儀器的改進(jìn)型產(chǎn)品。可用于測(cè)量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。如：

1. 鋼鐵材料上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。

2. 鋁、銅、金等箔、帶材料及紙張、塑料膜的厚度。

3. 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。

4. 鋁、鎂材料上陽(yáng)極氧化膜的厚度。

5. 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。