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菲希爾代理XDL240信息，菲希爾X射線測厚儀，FISCHERSCOPE X-RAY XDL240

X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 ，通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復雜的情況下，也可以進行精確的鍍層厚度測量和材料...

DMP20，在非磁性金屬基材上測量不導電涂層的厚度，在鐵磁性金屬基材上測量非鐵磁性涂鍍層的厚度。

DMP10，DMP 系列的便攜性、功能使其具有足夠的通用性，可用于廣泛的應用。這些靈活的設備是接觸式和非破壞性測量鐵基材和有色金屬基材上涂層厚度的解決方案。

ISOSCOPE DMP10，Fischer渦流法測厚儀，磁感應測厚儀，雙功能測厚儀，鍍鎳層測厚儀。

新的 DMP 系列為磁性和非磁性金屬基材的接觸式和非破壞性涂鍍層厚度測量設定了標準。 堅固而現代的設計、優(yōu)化的功能、數字探頭和直觀的 Tactile Suite...

SR-SCOPE DMP30，猶如人們生活需要空氣，涂層測厚儀需要合適的測量方法probe。 它對測量結果的質量起著決定性的作用。探頭可視為涂層測厚儀的核心。因...

菲希爾代理DMP20，DUALSCOPE®在非磁性金屬基材上測量不導電涂層的厚度，在鐵磁性金屬基材上測量非鐵磁性涂鍍層的厚度。

菲希爾DMP10磁感應測厚儀，為了保證質量控制能夠快速、順利、可靠地進行，對涂層測厚儀的要求和涂層本身一樣高。 1953年，Helmut Fischer在其位于...

DUALSCOPE FMP40菲希爾,在非磁性金屬基材上測量不導電涂層的厚度，在鐵磁性金屬基材上測量非鐵磁性涂鍍層的厚度。菲希爾雙功能測厚儀DMP40

FISCHER DMP30菲希爾代理，測量非磁性金屬基材上的非導電層和測量磁性基材上的非磁性層

Fischer代理測厚儀DMP20，數字和模擬探頭適用于廣泛的應用，使用 F-Adapter，您仍然可以訪問整個 Fischer 探頭產品組合

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Fischer DMP20，在非磁性金屬基材上測量不導電涂層的厚度，在鐵磁性金屬基材上測量非鐵磁性涂鍍層的厚度。

菲希爾涂層測厚儀DMP10，在非磁性金屬基材上測量不導電涂層的厚度，在鐵磁性金屬基材上測量非鐵磁性涂鍍層的厚度。

菲希爾測厚儀DMP10。50多年來，德國 Helmut Fischer GmbH Institutefor Electronics and Metrology公...

菲希爾涂層測厚儀HELMUT FISCHER代理，在數據組和全部數據中顯示重要的統計特征，以及分析方差(ANOVA)值

DUALSCOPE DMP20，測量非磁性金屬基材上的非導電層和測量磁性基材上的非磁性層。測量磁性基材上的非磁性層。

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DUALSCOPE FMP20測厚儀，DUALSCOPE FMP40菲希爾測厚儀配備有便于讀取的液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單計數據，Cp和...