菲希爾X-RAY XDLM231/XDLM232/XDLM237

FischerXDLM232

FischerXDLM232

從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測(cè)厚、材料分析、微硬度測(cè)量和材料測(cè)試領(lǐng)域發(fā)展出創(chuàng)新型的測(cè)量技術(shù)。如今，菲希爾的測(cè)量技術(shù)已在世界各地得到應(yīng)用，滿(mǎn)足客戶(hù)對(duì)儀器準(zhǔn)確度，精度和可靠性的要求。
兩種型號(hào)的儀器都配備了比例接收器探測(cè)器。即使對(duì)于很小的測(cè)量點(diǎn),由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計(jì)數(shù)率,確保良好的重復(fù)精度。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測(cè)星測(cè)星方向從.上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶(hù)友好的臺(tái)式機(jī),使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說(shuō)它們可以配備簡(jiǎn)單支板，各種XY工作臺(tái)和Z軸以適應(yīng)不同的需求。
裝備了可編程XY工作臺(tái)的版本的XDL系列儀器可用于自動(dòng)化系列測(cè)試。它能夠很便當(dāng)?shù)貟呙柰獗?這樣就能夠檢查其平均性。為了簡(jiǎn)單快速定位樣品，當(dāng)丈量門(mén)開(kāi)啟時(shí), XY工作臺(tái)自動(dòng)挪動(dòng)到加載位置,同時(shí)激光點(diǎn)指示測(cè)星點(diǎn)位置。關(guān)于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側(cè)面有啟齒(C形槽)。由于測(cè)星室空間很大,樣品放置便當(dāng)，儀器不只能夠丈量平面平整的物體,也能夠測(cè)星外形復(fù)雜的大樣品(樣品高度可達(dá)140mm)。Z軸可電動(dòng)調(diào)整的儀器，丈量間隔還能夠在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自在選擇,這樣就能夠測(cè)星腔體內(nèi)部或外表不平整的物體(DCM辦法)。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

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