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敞開式直線光柵尺設(shè)計用于對測量精度要求*的機床和系統(tǒng)。
典型應(yīng)用包括：
半導(dǎo)體業(yè)的測量和生產(chǎn)設(shè)備
PCB電路板組裝機
超高精度機床
高精度機床
測量機和比較儀，測量顯微鏡和其它精密測量設(shè)備
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
進口原裝德國海德漢HEIDENHAIN直線光柵尺
封閉式光柵尺能有效防塵、防切屑和防飛濺的切削液，是用于機床的理想選擇。
敞開式光柵尺與讀數(shù)頭和光柵尺或鋼帶間沒有機械接觸。這些光柵尺的典型應(yīng)用包括：測量機、比較儀和其它長度計量精密設(shè)備以及生產(chǎn)和測量設(shè)備，例如用在半導(dǎo)體工業(yè)中。海德漢角度編碼器
增量式光柵尺決定當前位置的方式是由原點開始數(shù)測量步距或細分電路的計數(shù)信號數(shù)量。海德漢的增量式光柵尺帶有參考點，開機時必須執(zhí)行參考點回零，操作非常簡單、快捷。heidenhain海德漢光柵尺
式光柵尺無需執(zhí)行參考點回零操作就能直接提供當前位置值。光柵尺的位置值通過EnDat接口或其它串行接口傳輸heidenhain海德漢伺服放大器。
進口原裝德國海德漢HEIDENHAIN直線光柵尺
產(chǎn)品圖：
產(chǎn)品參數(shù)：
| 說明 | |
| LIP | 超高精度 LIP敞開式直線光柵尺擁有極小的測量步距，*的精度和重復(fù)精度。掃描方式為干涉掃描，測量基準為DIADUR相位光柵。 |
|---|---|
| LIF | 高精度 LIF敞開式直線光柵尺的測量基準是SUPRADUR工藝制造的玻璃基體光柵，采用干涉掃描方法。特點是精度高和重復(fù)精度高，安裝特別簡單，有限位開關(guān)和回零軌。特殊型號的LIF 481 V可用于10–7 bar的真空環(huán)境中（參見其單獨“產(chǎn)品信息”）。 |
| LIDA | 高速運動和大測量長度 LIDA敞開式直線光柵尺特別適合運動速度達10 m/s的高速運動應(yīng)用，支持多種安裝方式，安裝特別簡單。根據(jù)相應(yīng)應(yīng)用要求，METALLUR光柵的基體可為鋼帶，玻璃或玻璃陶瓷。也有限位開關(guān)。 |
| PP | 二維坐標測量 PP二維編碼器的測量基準是平面DIADUR工藝制造的相位光柵，采用干涉掃描方法。用于測量平面中位置。 |
| LIP/LIF | 高真空和超高真空技術(shù) 我們的標準編碼器適用于低真空或中等真空應(yīng)用。高真空或超高真空應(yīng)用的光柵尺需要滿足一些特殊要求。采用的設(shè)計和材質(zhì)必須滿足應(yīng)用要求。更多信息，參見“真空中應(yīng)用的直線光柵尺”產(chǎn)品信息。 以下敞開式直線光柵尺于高真空或超高真空應(yīng)用環(huán)境。 • 高真空：LIP 481 V和LIF 481 V |
LIC 4100
| 型號 | 基線誤差 | 基體和安裝方式 | 細分誤差 | 測量長度 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 精度等級 | 局部 | ||||
| LIC 4113 LIC 4193 | ± 3 μm ± 5 μm | ≤ ± 0.275 μm/ 10 mm | 玻璃或玻璃陶瓷光柵尺，嵌入在安裝面中 | ± 20 nm | 240 mm 至3040 mm |
| LIC 4115 LIC 4195 | ± 5 μm | ≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.) | 鋼帶光柵尺穿入在鋁殼中并預(yù)緊 | ± 20 nm | 140 mm 至 28440 mm |
| LIC 4117 LIC 4197 | ± 3 μm ± 5 μm ± 15 μm | ≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.) | 鋼帶光柵尺穿入在鋁殼中并固定 | ± 20 nm | 240 mm 至 6040 mm |
| LIC 4119 LIC 4199 | ± 3 μm ± 15 μm | ≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.) | 鋼帶光柵尺粘貼在安裝面上 | ± 20 nm | 70 mm 至 1020 mm |