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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子/電池 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
名 稱(chēng)：激光干涉儀
型 號(hào)：SDI-635-25PV
品 牌：晟鼎
隨著光通訊行業(yè)的飛速發(fā)展，特別是通訊行業(yè)手機(jī)、平板等對(duì)成像質(zhì)量要求的不斷提高，必須對(duì)手機(jī)面板攝像孔的光學(xué)玻璃的透射波前進(jìn)行檢測(cè)和分析。
光學(xué)玻璃的透射波前是指一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的波形（平面波、球面波等）被透射或反射后的波形，它主要用于光學(xué)成像的像質(zhì)評(píng)價(jià)。隨著透射光學(xué)系統(tǒng)（如手機(jī)平板等攝像系統(tǒng)等）的成像質(zhì)量要求越來(lái)越高，迫切需要高精度的光學(xué)玻璃透射波前的檢測(cè)手段。高精度的檢測(cè)方法主要是用干涉儀檢測(cè)波前畸變。
其工作原理是將待測(cè)手機(jī)平板放于干涉儀的參考平面鏡和標(biāo)準(zhǔn)反射鏡中間，從標(biāo)準(zhǔn)參考鏡反射的光和標(biāo)準(zhǔn)反射鏡的光相干涉。干涉條紋則反映了手機(jī)面板攝像孔透射波前的好壞。
硬件部分
產(chǎn)品型號(hào) | SDI-635-25PV |
產(chǎn)品名稱(chēng) | 激光干涉儀 |
測(cè)試結(jié)構(gòu) | 斐索型立式結(jié)構(gòu) |
測(cè)試口徑 | 有效口徑Ф10mm |
測(cè)試光源 | 半導(dǎo)體激光光源（波長(zhǎng)635nm） |
對(duì)準(zhǔn)視場(chǎng) | ±0.5度 |
標(biāo)準(zhǔn)鏡面形精度 | λ/20 |
標(biāo)準(zhǔn)配件 | 1、干涉儀主機(jī)一臺(tái) |
設(shè)備重量 | 約16KG |
電源 | AC220V50HZ |
干涉儀軟件部分
軟件名稱(chēng) | 移相算法 |
分析項(xiàng)目 | 透過(guò)波前PV值、RMS值、干涉條紋數(shù) |
PV值測(cè)試重復(fù)性 | ±0.039λ |
條紋數(shù)測(cè)試精度 | ±0.5條 |
測(cè)試時(shí)間 | 1.5秒 |
測(cè)試數(shù)據(jù) | 可存EXECL |
檢測(cè)指標(biāo)的簡(jiǎn)單說(shuō)明：
PV值在數(shù)學(xué)上的定義是峰谷值( Peak to Valley),即大值和小值的差值。單位是λ(波長(zhǎng))。對(duì)應(yīng)到干涉儀透射檢測(cè)上，就是被檢元件的厚度差。
RMS值在數(shù)學(xué)上的定義是均方根值(root-mean-square)，單位是λ(波長(zhǎng)),這是一個(gè)統(tǒng)計(jì)值，RMS的大小反映了這些數(shù)據(jù)值的離散程度。對(duì)應(yīng)到干涉儀透射檢測(cè)上，RMS值越小表明被檢元件的厚度平滑性越好，高低起伏越少。
條紋根數(shù)是肉眼可見(jiàn)的被檢元件厚度差的直觀表現(xiàn)，與PV值成線性關(guān)系。條紋根數(shù)越少表明被檢元件的厚度差越小。
售后服務(wù)：
1、廠家貨源*
貨源有保障，可以根據(jù)客戶不同測(cè)試需求，提供不同測(cè)試方案。
2、關(guān)于售后
4小時(shí)電話響應(yīng)，24小時(shí)內(nèi)安排上門(mén)服務(wù)。終生維護(hù)。
3、關(guān)于發(fā)貨
到款4-5天內(nèi)到貨，江蘇、深圳區(qū)域第二天可以到貨。