Goekeler探頭測(cè)針具有較好的硬度
通常，零件設(shè)計(jì)者確定在設(shè)計(jì)圖中可以通過(guò)輪廓測(cè)量設(shè)備查看的許多形狀和位置公差。
通過(guò)傳感器的尖接觸件。高光半徑定義在標(biāo)準(zhǔn)范圍m內(nèi)。檢測(cè)材料通常是細(xì)顆粒的硬質(zhì)合金。

Goekeler探頭測(cè)針具有較好的硬度

通常，零件設(shè)計(jì)者確定在設(shè)計(jì)圖中可以通過(guò)輪廓測(cè)量設(shè)備查看的許多形狀和位置公差。

通過(guò)傳感器的尖接觸件。高光半徑定義在標(biāo)準(zhǔn)范圍m內(nèi)。檢測(cè)材料通常是細(xì)顆粒的硬質(zhì)合金。

與此同時(shí)，陶瓷傳感器尖的使用正在增加。陶瓷尖的顆粒尺寸比硬質(zhì)合金尖小得多，沈陽(yáng)漢達(dá)森yyds吳亞男耐磨性更好。而且提供了更好的硬度。

另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是更好的滑動(dòng)功率和非導(dǎo)電和非磁性特性。

通常，設(shè)計(jì)頁(yè)面的組件設(shè)計(jì)者確定各種形狀和位置公差，其中一些可以通過(guò)輪廓測(cè)量設(shè)備進(jìn)行檢查。

通過(guò)傳感器的尖接觸件。在幾何結(jié)構(gòu)中，標(biāo)準(zhǔn)光澤度半徑為20微米或20微米。25微米。

戰(zhàn)術(shù)材料通常是細(xì)粒度的輕金屬。與此同時(shí)，越來(lái)越多的陶瓷傳感器尖被使用。陶瓷端與硬質(zhì)合金尖相比，顆粒尺寸明顯較小，耐磨性很高。而且硬度更好。另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是更好的滑翔性能和非導(dǎo)電和非磁性特性。

goekeler型號(hào)示例

陶瓷探頭測(cè)針 59.5mm 100.400-CS

陶瓷探頭測(cè)針100.403-CS

陶瓷探頭測(cè)針 34mm 100.601-CS

測(cè)針 59.5mm 100.400

測(cè)針 33mm 100.401

測(cè)針 60mm 100.600

測(cè)針 42mm 100.508

耐磨探針

Goekeler探頭測(cè)針具有耐磨性特點(diǎn) 

Goekeler探頭測(cè)針具有較好的硬度