Film Sense 多波長橢偏儀 參考價(jià)：面議
Film Sense FS-8多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動(dòng) 式部件橢偏探測(cè)器，可在操作簡(jiǎn)單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)可靠地薄膜測(cè)量。大多數(shù)厚度 0–1...
Filmetrics 自動(dòng)光反射膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：1
Filmetrics F60-t 自動(dòng)光反射膜厚儀就像我們的F50白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x產(chǎn)品一樣。主要測(cè)繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。這些功...
Filmetrics 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
無論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，...
Filmetrics 薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測(cè)量?jī)x是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎(chǔ)所發(fā)展而來。F10-HC 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)接觸式探頭大...
Filmetrics 薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測(cè)量?jī)x是操作簡(jiǎn)單且高性價(jià)比的減反射與硬涂層檢測(cè)設(shè)備。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測(cè)量?jī)x使得自動(dòng)測(cè)試眼...
Filmetrics 薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡(jiǎn)單操作。用戶就能...
Filmetrics 光學(xué)厚膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F3-sX 光學(xué)厚膜測(cè)厚儀利用光譜反射原理，可以測(cè)量厚度達(dá)到3毫米的眾多半導(dǎo)體及介電層薄膜。相對(duì)于較薄的膜層，這種厚膜的表面較粗糙且不均勻...
HORIBA 研究級(jí)橢圓偏振光譜儀 參考價(jià)：面議
HORIBA UVISEL Plus 相位調(diào)制型橢圓偏振光譜儀基于新版的電子設(shè)備，數(shù)據(jù)處理和高速單色儀，F(xiàn)astacq技術(shù)能夠?yàn)橛脩籼峁└叻直婕翱焖俚臄?shù)據(jù)采集。...
HORIBA 橢圓偏振光譜儀 參考價(jià)：面議
HORIBA Smart SE 橢圓偏振光譜儀是一種薄膜測(cè)量工具。僅需簡(jiǎn)單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動(dòng)完成樣品測(cè)量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報(bào)告，包括薄膜...
HORIBA 橢圓偏振光譜儀 參考價(jià)：面議
HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀是一種新型薄膜測(cè)量工具。僅需簡(jiǎn)單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動(dòng)完成樣品測(cè)量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報(bào)告，包括薄...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x的光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x自動(dòng)化MAPPING 參考價(jià)：面議
Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x依靠光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以簡(jiǎn)單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：1
Filmetrics F54 白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetrics F32 光反射式膜厚儀特殊的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3u rack- mount底盤，加上附加的分光計(jì)，可達(dá)到四個(gè)不同的位置(EXR和UVX...
Filmetrics 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F54-XYT-300 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測(cè)量200 x 200mm樣品的薄膜厚度...
Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetrics F54-XY-200 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x借助光譜反射系統(tǒng)，可以測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的...
Filmetrics F20 白光干涉測(cè)厚儀儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x是一款高精度、多功能的測(cè)量設(shè)備，能夠快速測(cè)定薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測(cè)量方式適合各種...
Bowman XRF高精度鍍層測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測(cè)量系統(tǒng)是博曼的基礎(chǔ)機(jī)型和常規(guī)機(jī)型。該型號(hào)采用自上而下的測(cè)量方式。配備固定樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)手動(dòng)操作。測(cè)量時(shí)將樣品放入樣品倉，通...
Bowman XRF高精度鍍層測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Bowman博曼 K系列 XRF高精度涂層測(cè)量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測(cè)量區(qū)域，適用于多種樣品檢測(cè)。
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)厚儀嵌入式在線診斷免費(fèi)離線分析軟件精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存儲(chǔ)，重現(xiàn)與繪制測(cè)量結(jié)果
Filmetircs 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetircs 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測(cè)試系統(tǒng)，如需了解更多 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x膜厚測(cè)試儀 F3-sX 信息，咨詢。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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