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FT-330四探針電阻率測(cè)試儀工作原理范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差
PCB銅箔膜四探針方阻電阻率測(cè)試儀，按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法...
單電四探針方阻電阻率測(cè)試儀廠家，本儀器采用四探針測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具...
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