電子高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱適用于檢測電子、電子產(chǎn)品、電子元件、電路板、線路板、PCB板、FPC電路板、電工、電腦、光電、光纖、光伏組件、LED、LCD、IC、電器、汽車配件、化工、涂料、各種電子元器件及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在通電使用測試其耐高溫（高溫試驗(yàn)）、耐低溫（低溫試驗(yàn)）耐高低溫交變（高低溫循環(huán)試驗(yàn)）環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，考核其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

電子高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱適用于檢測電子、電子產(chǎn)品、電子元件、電路板、線路板、PCB板、FPC電路板、電工、電腦、光電、光纖、光伏組件、LED、LCD、IC、電器、汽車配件、化工、涂料、各種電子元器件及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在通電使用測試其耐高溫（高溫試驗(yàn)）、耐低溫（低溫試驗(yàn)）耐高低溫交變（高低溫循環(huán)試驗(yàn)）環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，考核其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

 

符合標(biāo)準(zhǔn)：

GJB150.3 高溫試驗(yàn)

GJB150.4 低溫試驗(yàn)

GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-2001 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法

IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

 

電子高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)、型號規(guī)格表：

 

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