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布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100ContourX-100光學輪廓儀是準確和可重復的非接觸式表面計量設備。
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-500ContourX-500光學輪廓儀快速，非接觸式3D表面計量自動化臺式系統(tǒng)。
ContourX-200三維光學輪廓儀用于加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫(yī)療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。
布魯克NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案。
ContourGT-X光學輪廓儀實驗室開發(fā)到批量生產均可適用的儀器。它積累了*代產品在白光干涉技術上的，實現(xiàn)了快速地三維表面測量，從納米級粗糙度表面的測量到毫米...
光學輪廓儀系統(tǒng)ContourGT-I汽車發(fā)動機、軸承、醫(yī)療器械、光學鏡片、半導體、LED、太陽能、生物醫(yī)學、高校、研究院測試過程更快、更便捷。
摩擦磨損試驗機UMT-TriboLab布魯克公司推出的UMT TriboLab通用機械性能測試儀，是一款功能強大且靈活的摩擦學測試系統(tǒng)。其模塊化設計允許用戶輕松...
工藝與材料表征系統(tǒng) TriboLab CMP布魯克公司的TriboLab CMP系統(tǒng)結合了超過20年的CMP領域專業(yè)知識，為工藝開發(fā)提供了高精度和高重復性的解決...
布魯克掃描電鏡專用原位納米力學系統(tǒng)PI 89Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter 是一款集成在掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）...
布魯克高精度納米力學測試系統(tǒng)TI 990布魯克推出的Hysitron TI 990 TriboIndenter®是其TriboIndenter平臺的全...
布魯克電鏡專用原位納米力學系統(tǒng) PI 85L布魯克Hysitron PI 85L是專為SEM設計的多用途測試系統(tǒng)，適用于熱學、電學和力學測試。它利用SEM高分辨...
布魯克電鏡專用原位納米力學測試系統(tǒng)PI 88布魯克Hysitron PI 88是一款高度模塊化的原位納米力學測試系統(tǒng)，專為SEM環(huán)境設計。它能夠實現(xiàn)力學測試與S...
布魯克透射電鏡專用原位納米力學系統(tǒng)PI 95布魯克Hysitron PI 95是專為透射電子顯微鏡(TEM)設計的多功能測試系統(tǒng)，支持高靈敏度的熱學、電學和力學...
納米力學測試系統(tǒng)TI 980一臺優(yōu)異納米力學測試儀器所需的要求，實驗上的靈活度與可實現(xiàn)性，測量穩(wěn)定性，以及系統(tǒng)設計的模塊化。
Hysitron 納米力學測試系統(tǒng)可以采用TI Premier 的多種基本配置完成常規(guī)測量的研究，同時多樣化的升級選項可以滿足您未來表征的潛在多樣性的需求。
摩擦磨損儀/納米壓痕布魯克UMT摩擦磨損試驗機由于其良好的兼容新和多模塊化設計得到了市場。
低真空鍍膜儀CCU-O10LVCCU-010 鍍膜機提供兩種款型。CCU- 010 LV低真空鍍膜機，CCU- 010 HV 高真空鍍膜機。
高真空鍍膜儀CCU-O10HV不論您想要進行濺射、碳蒸發(fā)還是等離子處理，您更換工作頭，就能完成各種應用。
AFM探針/原子力探針/納米壓痕（金剛石）AFM探針，原子力顯微鏡探針，veeco探針，Bruker探針
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