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應(yīng)用領(lǐng)域
•薄膜及顆粒的熱導(dǎo)率測量
•各向異性材料的熱導(dǎo)率測量
•界面熱導(dǎo)（薄膜間或薄膜與基底間）
•熱物理性質(zhì)的微區(qū)Mapping測量
設(shè)備特點
•微尺度熱導(dǎo)率精確測量：無論是薄膜、微粒（如18 μm單晶氧化鋁顆粒）還是各向異性材料（如La?Ca?Cu?O??單晶），它都能準(zhǔn)確測量材料的熱導(dǎo)率。
•熱邊界傳導(dǎo)量化：精準(zhǔn)測定深層界面熱傳導(dǎo)性能，例如比較物理氣相沉積（PVD）與濺射法制備的金薄膜界面?zhèn)鲗?dǎo)差異（TBC分別為138.0 MW/m2·K與306.5 MW/m2·K）。
•三維熱擴散建模：通過激光掃描與光束偏移技術(shù)，同步分析面內(nèi)與面外熱導(dǎo)率，揭示材料各向異性特性。
•高效數(shù)據(jù)采集：單次相位曲線測量僅需10分鐘，支持從低頻到高頻（10 kHz–100 kHz）的寬頻段掃描。
設(shè)備參數(shù)
型號 | InFocus κ FDTR |
泵浦激光 | 445nm |
光斑：~2 μm (@20x, NA=0.45) | |
探測激光 | 514 nm |
光斑：~1 μm (@20x, NA=0.45) | |
換能器 | Au |
頻率調(diào)制范圍 | 10 kHz ～ 50 MHz |
尺寸 | W505 × D560 × H480 mm |
重量 | 70 kg |
其他 | 面掃描功能 |
各向異性分析 | |
高分率拉曼光譜（選配） | |
高低溫樣品臺（選配） |
測試數(shù)據(jù)
薄膜材料分析
對四種不同Sn含量的非晶GeSn薄膜（厚度約100 nm）的測試表明，熱導(dǎo)率隨錫含量增加而下降（0.44–0.55 W/m·K）。
不同Sn含量的非晶GeSn薄膜熱導(dǎo)率測量結(jié)果
界面熱導(dǎo)測量（Thermal boundary conductance）
PVD方法制備的換能器TBC值為138.0 MW/m2·K，而濺射法制備的換能器TBC值提升至306.5 MW/m2·K，約為前者的兩倍
不同方法制備的換能器（Transducer）界面熱導(dǎo)率的差別
顆粒測量
下圖展示了一個評估粒徑為18 μm的單晶氧化鋁顆粒熱導(dǎo)率的案例研究。由于這些顆粒具有粗糙的多面體結(jié)構(gòu)，因此需要仔細(xì)挑選具有平坦表面的顆粒，并將激光聚焦于平坦表面中心以獲得鏡面反射信號。擬合結(jié)果表明，該顆粒的熱導(dǎo)率與塊狀氧化鋁相當(dāng)
單晶氧化鋁顆粒的熱導(dǎo)率測量結(jié)果
塊體材料測量
下圖展示了在藍(lán)寶石與金剛石基板上進(jìn)行的熱導(dǎo)率測量。擬合結(jié)果表明：藍(lán)寶石基板的熱導(dǎo)率為30.8 W/m·K，而金剛石基板則高達(dá)2820.0 W/m·K，證明即使對超高熱導(dǎo)率的材料Infocus κ FDTR 也能實現(xiàn)精確定量評估。
藍(lán)寶石與金剛石基板熱導(dǎo)率測量結(jié)果
