XRF-Z8油涂布量分析儀是一款面向硅油涂層面密度檢測(cè)的X射線熒光光譜儀，可廣泛應(yīng)用于硅油涂布行業(yè)產(chǎn)品工藝及成本的管理。該產(chǎn)品既可以分析PET薄膜，還可以分析格拉辛、淋膜紙及牛皮紙等多種硅油涂布量。該產(chǎn)品同時(shí)支持選裝多位轉(zhuǎn)盤(pán)，裝好樣品后，可一次性檢測(cè)10個(gè)樣品位。檢測(cè)速度快，測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高。

產(chǎn)品特點(diǎn)

元素檢測(cè)范圍：鋁(13)～鈦(22)          

分析范圍：0.01~50g/m²

檢測(cè)精度：±0.01 g/m²

檢測(cè)樣品：PET離型膜/各類(lèi)離型紙

整張A4紙大小樣品直接測(cè)試，不用裁剪取樣

1張薄膜或紙張多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試，測(cè)試效率高

支持選裝配件：自動(dòng)轉(zhuǎn)盤(pán)檢測(cè)（10位）

核心部件

探測(cè)器：美國(guó)AMPTEK定制Fast-SDD

探測(cè)器面積：25mm²

分辨率：125±5eV

內(nèi)置工控電腦：Intel i5 12核工控電腦

高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

X射線管：20KV/1mA

窗口材料：鈹

靶材：銀

焦點(diǎn)：Φ1.0mm

準(zhǔn)直器：Φ8mm