XF-A5SMC 西凡光譜測金儀A5SMC精準(zhǔn)分析黃金白銀
- 公司名稱 西凡儀器(深圳)有限公司
- 品牌 CFAN/西凡儀器
- 型號 XF-A5SMC
- 產(chǎn)地 深圳市寶安區(qū)新橋街道黃埔社區(qū)上南東路128號2號廠房十層
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/6/17 8:40:14
- 訪問次數(shù) 76
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分析含量范圍 | 0.010%~99.999% | 價格區(qū)間 | 面議 |
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能量分辨率 | 145±5eV | 行業(yè)專用類型 | 有色金屬 |
儀器種類 | 臺式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,汽車及零部件,綜合 |
元素分析范圍 | 鉀(19)~鈾(92) | 重復(fù)性 | 自定義 |
檢測精度 | ±0.03%(9999金) | 檢測樣品 | 貴金屬合金/鍍層/寶石/珍珠/液體 |
探測器 | 美國AMPTEK定制Si-PIN | 內(nèi)置工控電腦 | Intel i3十核 |
高壓電源 | 50KV/1mA數(shù)字高壓電源 | 準(zhǔn)直器 | Φ0.8毫米+Φ2.0毫米 |
XF-A5SMC是西凡儀器推出的一款全新升級光路的X射線熒光光譜儀,可廣泛應(yīng)用于貴金屬產(chǎn)業(yè)鏈、電鍍產(chǎn)業(yè)鏈、寶石產(chǎn)業(yè)鏈等行業(yè)。該產(chǎn)品搭載美國AMPTEK定制Si-PIN探測器,內(nèi)置Intel十核CPU工控電腦,采用Smart FP算法,創(chuàng)新性應(yīng)用西凡第二代X射線與可見光共焦點(diǎn)垂直光路,其可獲得更小的實(shí)際照射焦斑。能夠精準(zhǔn)分析貴金屬成分、寶石成分、鍍層厚度和離子濃度等,檢測速度快,測試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高,性價比高。MC型號支持雙準(zhǔn)直器,應(yīng)用范圍更廣。
產(chǎn)品特點(diǎn)
元素檢測范圍:鉀(19)~鈾(92)
可支持最多30個元素同時計算
可支持4層鍍層厚度及合金鍍層分析
可支持寶石人工/天然分析
鍍層報警、錸鎢檢測報警
分析范圍:
貴金屬:0.010%~99.999%
鍍層:0.002um~80um
液體:10mg/L~200g/L
檢測精度:
貴金屬:±0.03%(9999金)
鍍層:RSD≤2.5%
液體:RSD≤2.5%
檢測樣品:貴金屬合金/鍍層/寶石/珍珠/液體
支持多點(diǎn)連續(xù)測試,測試效率高
遵守ISO23345及ISO3497標(biāo)準(zhǔn)
核心部件
探測器:美國AMPTEK定制Si-PIN
探測器面積:6mm2
分辨率:145±5eV
內(nèi)置工控電腦:Intel i3十核
高壓電源:50KV/1mA數(shù)字高壓電源
X射線管:50KV/1mA
窗口材料:鋁
靶材:鎢
焦點(diǎn):Φ0.5mm
準(zhǔn)直器:Φ0.8毫米+Φ2.0毫米