測氟難?TRACER 5G手持XRF破局!
突破輕元素檢測極限
氟(F)——現(xiàn)代工業(yè)的“關(guān)鍵先生”,也是潛伏的“麻煩制造者”!
在精密半導體制造中,氟基氣體(如CF4, NF3)是蝕刻、沉積、清洗工藝的“利器”,其精準控制直接關(guān)乎芯片性能和良率。然而,氟的“調(diào)皮”屬性也帶來挑戰(zhàn):殘留的氟化合物可能腐蝕精密部件,污染制程,甚至導致昂貴的設(shè)備宕機!
在環(huán)境保護領(lǐng)域,含氟的持久性有機污染物(PFAS),如全氟烷基磺酸鹽(PFASs)和聚四氟乙烯(PTFE)相關(guān)物質(zhì),因其在環(huán)境(土壤、水體)和人體中極難降解(被稱為“頑固化學品”)并具有潛在健康風險,已成為全球監(jiān)管和治理的焦點。消防泡沫、防護涂層、不粘炊具、潤滑劑(如自行車鏈蠟、滑雪蠟)都可能成為PFAS的來源。
行業(yè)痛點與挑戰(zhàn)
無論是確保萬億級芯片產(chǎn)線的純凈,還是鎖定無處不在的“頑固化學品”,快速、精準地檢測氟元素,都是破局的關(guān)鍵!傳統(tǒng)方法?力不從心!
實驗室送檢:周期長(耽誤生產(chǎn)排期/污染擴散)、成本高(大規(guī)模篩查難以承受)、樣品破壞性(珍貴晶圓/復雜基體)。
常規(guī)手持XRF: 對氟(F)等超輕元素束手無策,無法現(xiàn)場給出答案!
檢測難題亟待破解:如何做到 輕、快、準?
TRACER 5G
布魯克(Bruker)推出的科研級手持式XRF分析儀——TRACER 5G,正是為解決此類嚴苛挑戰(zhàn)而生。它不僅僅是一款手持設(shè)備,更代表了輕元素檢測領(lǐng)域的一項重大突破。
核心技術(shù):
TRACER 5G的核心革新在于其革命性的探測器窗口:它采用了1μm厚度的石墨烯窗口,取代了傳統(tǒng)的8μm鈹窗。
Q:為何是石墨烯?
A:這種由單層碳原子構(gòu)成的二維材料,結(jié)構(gòu)異常堅固,卻具有超薄的特性。
Q:帶來了什么改變?
A: 石墨烯窗口實現(xiàn)了更高的X射線透射率,顯著提升了對輕元素尤其是氟(F)的檢測靈敏度!
此外,
鈉 (Na)1 靈敏度提升 3倍
鎂 (Mg)1 靈敏度提升 2倍
氦氣環(huán)境 (He2) 下,Na檢測限可達 300 ppm
氦氣環(huán)境 (He2) 下,Mg檢測限可達 100 ppm
氟 (F) 檢測能力獲得質(zhì)的飛躍
關(guān)鍵突破: 實現(xiàn)現(xiàn)場、快速、無損檢測氟(F)元素!
解決氟檢測痛點
TRACER 5G如何化身“氟”務(wù)專家?看兩大硬核應用場景:
· 案例1:半導體制造過程中的氟檢測——氟殘留與材料鑒別
痛點:
工藝腔室、晶圓載具、管道內(nèi)壁殘留的氟化物(如蝕刻副產(chǎn)物)是隱形殺手;新型耐等離子體材料氧氟化釔 (YOF) 正逐步取代氧化釔 (Y?O?),但如何快速確認使用的是YOF(含氟)還是Y?O?(不含氟)?
TRACER 5G 解決方案:
快速篩查殘留: 無需拆卸,直接在設(shè)備部件、腔體表面或晶圓(非功能區(qū))進行無損測量,數(shù)秒內(nèi)定位氟污染熱點,預警潛在風險,保障制程純凈度和設(shè)備壽命。
精準材料鑒別: 通過檢測氟元素的存在與否,快速、明確區(qū)分YOF涂層與Y?O?涂層,確保關(guān)鍵防護部件使用了正確的先進材料。告別依賴復雜實驗室分析或模糊的物理觀察!
· 案例2:含氟的持久性有機污染物的檢測
痛點:
PFAS分布廣泛(消防訓練場、工業(yè)區(qū)、受污染水體周邊、廢棄物處理點),傳統(tǒng)檢測流程繁瑣、昂貴且滯后,難以滿足快速響應和初步篩查需求。PTFE制品在使用磨損后也可能釋放相關(guān)含氟物質(zhì)。
TRACER 5G 解決方案:
現(xiàn)場初篩利器:快速掃描土壤、灰塵、沉積物、甚至某些固體廢棄物表面,指示可能存在PFAS污染的熱點區(qū)域(氟作為PFAS的特征元素是其重要指示器)。雖然不能直接鑒定具體PFAS種類,但能大幅縮小需要送實驗室精確定量分析的范圍,節(jié)省大量時間和成本。
污染源追蹤: 輔助判斷可能的污染源(如泄漏點、歷史使用區(qū)域)。
含氟材料識別: 快速識別場地中是否含有高濃度的含氟材料(如PTFE制品碎片、特定消防泡沫殘留物)。
產(chǎn)品價值 - TRACER 5G不僅僅是一臺“手持設(shè)備”
科研級的檢測能力: 它代表著當前手持式XRF分析儀技術(shù)的前沿水平,性能直逼實驗室精密儀器。
寬泛的元素覆蓋: 從超輕的鈉(Na)到重元素的鈾(U),一機覆蓋元素周期表兩端,滿足科學家和工程師的多元化研究分析需求。
靈活性: 手持便攜設(shè)計,讓實驗室級的精準分析隨時隨地發(fā)生在產(chǎn)線旁、設(shè)備旁、研發(fā)現(xiàn)場。
無損檢測: 無需破壞樣品! 珍貴晶圓、設(shè)備部件、現(xiàn)場樣本完好無損。
操作簡單: 非專家經(jīng)簡單培訓即可上手,降低使用門檻。
成本效益: 大幅降低良率損失風險、設(shè)備維護成本、實驗室送檢開銷及大規(guī)模環(huán)境篩查費用。
強大耐用: 專為工業(yè)現(xiàn)場和環(huán)境勘察設(shè)計。
無論您是:
追求良率與制程控制的半導體大廠,
負責環(huán)境監(jiān)測與修復的政府機構(gòu)/環(huán)保公司,
還是需要管控供應鏈風險的材料/零部件供應商,
揭秘歷史真相的藝術(shù)品與考古機構(gòu)(顏料成分無損鑒定、文物材質(zhì)分析),
保障舌尖安全的食品/農(nóng)業(yè)監(jiān)管者與生產(chǎn)者(土壤養(yǎng)分/污染元素篩查、食品接觸材料有害重金屬遷移檢測、肥料成分驗證),
勘探地球?qū)毑氐牡刭|(zhì)礦業(yè)團隊(礦樣現(xiàn)場快速品位評估、礦脈追蹤、環(huán)境本底調(diào)查)
布魯克TRACER 5G手持式XRF分析儀,憑借革命性的石墨烯窗口技術(shù),為您提供現(xiàn)場、快速、無損、精準的氟元素檢測方案,助您牢牢掌控氟這把“雙面刃”!
即刻解鎖科研級手持分析新境界!
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