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薄膜測厚儀(如Labthink C640測厚儀)是一款高精度、高重復(fù)性的機械接觸式精密測厚儀,專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機,更加準確、高效的進行連續(xù)多點測量。
【薄膜測厚儀的機械接觸式工作原理】
薄膜測厚儀的機械接觸式工作原理主要是通過物理接觸的方式實現(xiàn)對薄膜材料厚度的測量。其核心在于利用一個高精度探針(或感應(yīng)頭、觸點系統(tǒng)),在受控力的作用下輕輕接觸待測薄膜表面,并穿透至基材或另一層薄膜表面。通過監(jiān)測探針(或感應(yīng)頭)位移的變化,結(jié)合探針(或感應(yīng)頭)的幾何形狀和材料屬性,以及電路的開關(guān)時間和對應(yīng)的電壓信號,可以計算出薄膜的厚度。
Labthink C640機械接觸式薄膜測厚儀,選用超高精度的位移傳感器,通過位移傳感器來測試薄膜材料的厚度。當(dāng)測量頭以一定的壓力落在試樣上時,與測量頭一體的傳感器會自動檢測出上下測量面之間的距離,該距離即為薄型試樣的厚度。
【薄膜測厚儀的具體使用方法】
選擇合適的測量頭:根據(jù)待測薄膜材料的性質(zhì)選擇適合的探針和測量參數(shù)。
檢查儀器狀態(tài):確保儀器各部件完好無損,機械裝置運行正常。
清潔表面:去除待測薄膜表面可能影響測量結(jié)果的雜質(zhì)或污垢。
校準儀器:使用標準樣品對儀器進行校準,以保證測量結(jié)果的準確性。
放置薄膜:將待測薄膜平整地放置在測量臺上,確保與測量頭準確對齊。
啟動測量:操作人員啟動儀器,使探針(或測量頭)在精確控制的力作用下接觸薄膜表面。此時,儀器的測量頭落在設(shè)備砧板上,傳感器讀取測量頭的初始位移值。測量頭抬起后,再將試樣放置在砧板紙上,測量頭再次落下,傳感器讀取新的位移值。兩次位移值之差即為試樣的厚度值。
讀取結(jié)果:測量完成后,測厚儀的顯示屏上會顯示出測量的厚度值。記錄測量結(jié)果,包括測量點的位置、日期和時間,以及任何可能影響測量精度的因素。
數(shù)據(jù)分析:對測量結(jié)果進行數(shù)字化處理,分析薄膜的均勻性和一致性。
綜上所述,薄膜測厚儀的機械接觸式工作原理簡單明了,操作方法也相對便捷。通過正確使用薄膜測厚儀,可以實現(xiàn)對薄膜材料厚度的精確測量,為生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制提供有力支持。在薄膜測厚儀的日常操作和使用過程中,如遇到任何儀器問題,均可直接聯(lián)系廠家售后技術(shù)人員,獲取及時、專業(yè)的技術(shù)支持。
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