泰勒霍普森粗糙度儀 DUO，在表面粗糙度測量領(lǐng)域。其采用接觸式測量原理，配備耐磨金剛石測針與精密機(jī)動驅(qū)動裝置。電機(jī)驅(qū)動測針在被測物體表面穩(wěn)定移動，高感應(yīng)度壓電傳感器捕捉測針垂直位移，將機(jī)械移動轉(zhuǎn)化為電子信號，經(jīng)數(shù)字化處理后由微處理器運(yùn)用標(biāo)準(zhǔn)化算法，即時(shí)計(jì)算出表面粗糙度參數(shù)。

DUO 功能強(qiáng)大，一鍵操作即可快速測量 Ra（輪廓算術(shù)平均偏差）、Rz（微觀不平度十點(diǎn)高度）、Rp（輪廓最大峰高）、Rv（輪廓最大谷深）、Rt（輪廓最大高度）等多個(gè)粗糙度參數(shù)，并清晰顯示在 2.4 英寸直觀 LCD 彩色屏幕上。

儀器使用充電電池供電，續(xù)航能力強(qiáng)，能在各類環(huán)境和物體表面實(shí)現(xiàn)快速、便捷且精確的現(xiàn)場測量。其還具備諸多實(shí)用設(shè)計(jì)：運(yùn)用藍(lán)牙技術(shù)，實(shí)現(xiàn)驅(qū)動與顯示 / 控制裝置間快速可靠通信；可呈現(xiàn)詳細(xì)輪廓圖形，助力分辨測量區(qū)域問題；通過滑軌和鎖定裝置，能分為顯示 / 控制與驅(qū)動兩部分，便于在特殊位置測量。

在技術(shù)參數(shù)方面，分辨率達(dá) 0.01μm（0.4μin） ，量程上，Ra 最大 40μm（1600μin），Rz、Rv、Rp、Rt 最大 199μm（7800μin），重復(fù)性為示值的 2% + 噪聲，精度是讀數(shù)的 5% + 0.1μm（4μin）。此外，操作環(huán)境溫度為 0 - 40℃，濕度 0 - 80% 非冷凝，存儲環(huán)境溫度 0 - 50℃，濕度 0 - 80% 非冷凝 。

DUO 應(yīng)用廣泛，在工業(yè)生產(chǎn)中，可用于研磨、車削等加工工藝的過程控制；在航空航天領(lǐng)域，能保障渦輪葉片等關(guān)鍵零部件質(zhì)量；在印刷輥、地板、玻璃等產(chǎn)品生產(chǎn)中，也可有效把控表面質(zhì)量。