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　　半導體硅片測厚儀是用于精確測量硅片厚度及其均勻性的關鍵設備，對芯片制造過程中的工藝控制(如研磨、拋光、外延生長等)至關重要。

　　一、半導體硅片測厚儀簡介

　　半導體硅片測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

　　二、半導體硅片測厚儀應用領域

　　1. 工藝控制的核心環(huán)節(jié)

　　晶圓制備階段

　　確保切片后的硅片厚度均勻，避免后續(xù)研磨/拋光過量或不足。

　　檢測TTV和LTV，減少因厚度不均導致的應力集中或破裂風險。

　　薄膜沉積與刻蝕

　　監(jiān)控外延層、氧化層等薄膜厚度(如Epi層需控制在1~10μm±0.1μm)，直接影響器件電性能(如MOSFET溝道遷移率)。

　　CMP(化學機械拋光)

　　實時反饋拋光厚度，防止過拋導致硅片報廢(每片300mm硅片成本可達數(shù)百美元)。

　　2. 提升器件性能與良率

　　電學參數(shù)一致性

　　厚度偏差會導致寄生電容變化，影響高頻器件(如RF芯片)的截止頻率(??fT)。

　　功率器件(如IGBT)的擊穿電壓與硅片厚度直接相關(如1200V器件需~150μm厚硅片)。

　　3D集成與先進封裝

　　硅通孔(TSV)工藝中，硅片減薄至50~100μm時，厚度誤差需<±1μm，否則導致互聯(lián)失效。