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ASAHI-SPECTRA朝日分光OMD-1000光學(xué)式膜厚計(jì)
ASAHI-SPECTRA朝日分光OMD-1000光學(xué)式膜厚計(jì)
ASAHI-SPECTRA朝日分光OMD-1000光學(xué)式膜厚計(jì)
增強(qiáng)的波長范圍 以前的型號(hào)是濾光片型波長選擇，但新產(chǎn)品采用了我們經(jīng)過驗(yàn)證的光譜儀，現(xiàn)在可以選擇任何波長。 薄膜厚度變化的信號(hào)從電壓輸出更改為與個(gè)人計(jì)算機(jī)兼容的數(shù)字輸出，控制機(jī)構(gòu)由個(gè)人計(jì)算機(jī)的命令控制，而不是手動(dòng)作。 此外，通過I/F直接連接個(gè)人計(jì)算機(jī)的薄膜測厚儀本體進(jìn)行控制，因此沒有其他制造商的控制器，因此是一個(gè)非常緊湊的系統(tǒng)。 長處 緊湊的設(shè)計(jì)，帶有集成光譜儀 提高抗噪性，實(shí)現(xiàn)可靠的膜厚監(jiān)測（靜電放電測試耐壓 ±5kV） 可通過 PC 的命令自動(dòng)控制 控制器內(nèi)置于接收器本體中，以實(shí)現(xiàn)高性價(jià)比。
| 型式 | OMD-1000 型 |
| 光譜儀類型 | Czerny-Turner單色 |
| 波長范圍 | 保修范圍：380~900nm工作 范圍：350~1100nm |
| 波長分辨率 | surito0.5mm：4.2nm[546nm] surito1.0mm：8.3nm[546nm] |
| 波長精度 | ±1.0納米 |
| 最小波長饋源 | 0.1 納米 |
| 外部控制 | RS232C 控制器 |
| 外部輸出端子 | DC0~2V（滿量程） |
| 采樣間隔 | 100ms 或更長 |
| 靜電放電測試耐壓 | ±5 kV（實(shí)際電壓為 8 kV） |
| 光源 | 12V100W 鹵素?zé)?/td> |
| 光量安定性 | ±0.1%/h 以下 |
| 輸入電壓 | AC100V 50/60Hz |
| 允許的輸入電壓 | AC85~132V 交流 |
| 視在功率 | 340VA 或更低 |
| 使用環(huán)境 | 溫度：10~35°C，濕度 ：20~80% |
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