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X-ray XDL210射線測厚儀具有良好的長期穩(wěn)定性，可以不用經(jīng)常性的校準(zhǔn)儀器。
固定的工作臺，固定的z軸系統(tǒng)。
測量量大規(guī)模出產(chǎn)的電鍍部件 • 測量量超薄鍍層，例如：裝飾鉻 • 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層 • 全自動測量，如測量印刷線路板 • 分析電鍍?nèi)芤?。操作很人性化，測量門帶有大觀察窗，并能大視點敞開，儀器前部控制面板具備多種功能，日常使用輕松便捷。帶有三種擴大倍率變焦的高像素視頻體系能精確地定位樣品，即使是十分細的線材或者是半導(dǎo)體微小的接點都能高質(zhì)量地顯示出測量點所在位置。激光點作為輔助定位設(shè)備進一步方便了樣品的快速定位。
典型應(yīng)用領(lǐng)域：
• 測量PCB、引線框架和晶片上的鍍層系統(tǒng)
• 測量微小工件和線材上的鍍層系統(tǒng)
• 分析微小工件的材料成分
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