深入解析Zeta電位分析儀的測量原理

來源：北京奧德利諾儀器有限公司 2025年02月17日 11:27

　　Zeta電位分析儀是一種基于電泳和光散射原理的高精度測量儀器，主要用于測量納米顆粒的Zeta電位。Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢差，是表征粒子表面電荷狀態(tài)的一個重要參數(shù)。

　　該分析儀的測量原理主要依賴于電泳遷移率的測定。當電場施加于電解質溶液中的懸浮帶電粒子時，這些粒子會受到電場力的作用而向相反電荷的電極移動。同時，作用于粒子的粘性力會傾向于對抗這種運動。當這兩種力達到平衡時，粒子將以恒定的速度運動，這個速度被稱為電泳遷移率。

　　通過測量電泳遷移率，并結合介電常數(shù)、溶液粘度等物理參數(shù)，可以利用Henry方程推導出粒子的Zeta電位。這一過程的關鍵在于準確測量電泳遷移率，這通常通過電泳光散射法來實現(xiàn)。

　　在電泳光散射法中，激光被用來照射納米顆粒，顆粒在電場作用下的電泳運動會導致光的散射角度和強度發(fā)生變化。通過測量這些變化，可以計算出顆粒的電泳遷移率，進而得到Zeta電位。

　　此外，Zeta電位分析儀還可以結合動態(tài)光散射技術來測量納米顆粒的粒度分布。這一功能使得分析儀能夠同時提供關于顆粒大小和表面電荷性質的信息，為科研和工業(yè)應用提供了更為全面的數(shù)據(jù)支持。

　　綜上所述，Zeta電位分析儀的測量原理基于電泳遷移率的測定，通過電泳光散射法和動態(tài)光散射技術的結合，實現(xiàn)了對納米顆粒Zeta電位和粒度分布的高精度測量。

相關產(chǎn)品

凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權或有權使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關法律責任。
本網(wǎng)轉載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關權利。

久久久久亚洲精品男人的天堂,日本韩国男男作爱GAYWWW,特黄AAAAAAA片免费视频,av天堂电影网