手機版
化工儀器網(wǎng)手機版
化工儀器網(wǎng)小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關(guān)注視頻號
薄膜厚度測量儀主要基于光學(xué)、機械或電學(xué)原理，來實現(xiàn)對各種材料表面薄膜厚度的精準測量。常見的測量方法包括：
1 光學(xué)測量
光學(xué)測量方法多采用干涉法或反射法。干涉法利用光的波動性質(zhì)，當光波在薄膜的不同界面之間反射時，會形成干涉條紋，通過分析條紋的變化，可以算出薄膜的厚度。反射法則是基于光的反射特性，當光照射到具有不同折射率的薄膜時，會產(chǎn)生反射，通過測量反射光強度的變化，可以推斷出薄膜的厚度。
2 機械測量
機械測量方法通常使用探針直接接觸到薄膜表面，利用探針的位移量來計算薄膜的厚度。這種方法在很多應(yīng)用中非常精準，但對薄膜的紋理和結(jié)構(gòu)要求較高，部分情況下可能會損傷膜層。
3 電學(xué)測量
電學(xué)測量方法則通過電容或電阻的變化來獲取薄膜的厚度。這類技術(shù)主要用于極薄的膜層，如納米級別的薄膜，能夠提供足夠的靈敏度和準確性。
相關(guān)產(chǎn)品
免責聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的，應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負版權(quán)等法律責任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
采購中心