全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng)，可以精確快速地完成技術(shù)清潔度檢測(cè)環(huán)節(jié)中的光學(xué)分析，包括標(biāo)準(zhǔn)分析和深入分析，涵蓋濾膜掃描、顆粒結(jié)果復(fù)核和報(bào)表生成以及數(shù)據(jù)展現(xiàn)四個(gè)步驟，具有高可靠性和高精確性的檢測(cè)數(shù)據(jù)結(jié)果、直觀的用戶操作界面，以及傳統(tǒng)掃描速度兩倍的偏光一次掃描技術(shù)等多項(xiàng)技術(shù)特點(diǎn)。

1.     全自動(dòng)檢測(cè)操作：使復(fù)雜的檢測(cè)流程簡(jiǎn)單化，檢測(cè)人員易上手，智能化檢測(cè)。

2.     自動(dòng)拍照 / 無(wú)縫拼接/先近圖像矯正技術(shù) / 100分之圖像預(yù)覽：采用核心無(wú)縫拼圖技術(shù)，保證邊緣圖像無(wú)陰影暗角，超越進(jìn)口設(shè)備拼接效果。

3.     超高自動(dòng)化程度：一鍵操作，僅一次掃描。避免人為操作誤差，保證測(cè)量系統(tǒng)重復(fù)性，用戶無(wú)需復(fù)雜的專業(yè)知識(shí)，也可輕松完成清潔度檢測(cè)系統(tǒng)分析。

4.     顆粒算法：系統(tǒng)分析標(biāo)準(zhǔn)中包含多種顆粒尺寸定義，結(jié)合圖像算法，滿足不同客戶不同標(biāo)準(zhǔn)對(duì)顆粒的不同分析要求。

5.     精準(zhǔn)回看：對(duì)目標(biāo)顆粒ID回溯功能,進(jìn)一步測(cè)量，判斷顆粒屬性，使數(shù)據(jù)更可靠。

6.     系統(tǒng)可自動(dòng)設(shè)定符合 VDA19.1-2015/ISO16232-2018 規(guī)定的曝光時(shí)間和閾值。

7.     掃描后的所有顆?？蛇M(jìn)行人工審閱復(fù)核和修改，修改結(jié)果實(shí)時(shí)自動(dòng)更新：掃描檢測(cè)完的所有顆粒污染物可進(jìn)一步人工審閱復(fù)核，對(duì)軟件誤判的顆粒及時(shí)進(jìn)行刪除，拆分，合并和更改顆粒屬性。審閱修改的顆粒結(jié)果，在所有視圖和檢測(cè)結(jié)果中實(shí)時(shí)自動(dòng)更新。

8.     用戶權(quán)限分級(jí)管理功能和中英文版本自由切換：全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng)可以根據(jù)用戶管理賬號(hào)，按照管理員、用戶不同級(jí)別進(jìn)行使用功能的分級(jí)受權(quán)，保障系統(tǒng)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置等的安全，防止被操作員誤操作意外改動(dòng)和刪除。

9.     SQL數(shù)據(jù)庫(kù)：常規(guī)分析系統(tǒng)只有顆粒數(shù)據(jù)及MAP圖儲(chǔ)存，無(wú)法數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)。本系統(tǒng)增加了SQL數(shù)據(jù)庫(kù)統(tǒng)計(jì)功能，可選擇任意時(shí)間段查看并調(diào)出蕞大金屬顆粒、任意顆粒尺寸范圍數(shù)據(jù)，并以趨勢(shì)圖表述?？蔀樯a(chǎn)過(guò)程控制提供直觀數(shù)據(jù)。

咨詢相關(guān)產(chǎn)品：清潔度檢測(cè)設(shè)備、清潔度顆粒分析系統(tǒng)、清潔度顆粒檢測(cè)儀、清潔度清洗萃取設(shè)備、清潔度萃取設(shè)備、清潔度制樣設(shè)備、清潔度分析儀器、清潔度分析系統(tǒng)、多工位清潔度分析儀、PCB清潔度儀、鋰電清潔度檢測(cè)儀、清潔度測(cè)試儀、清潔度清洗機(jī)、磁性顆粒檢測(cè)儀、磁性顆粒分析儀、金相分析儀請(qǐng)聯(lián)系我們。