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渦流涂層測(cè)厚儀采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、低電壓指示、性能好。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
渦流涂層測(cè)厚儀是一種小型儀器,采用渦電流測(cè)量原理,該測(cè)厚儀測(cè)頭中的線圈鐵芯通常是用鉑鎳合金等高頻材料制成的，通過電流在線圈中產(chǎn)生高頻的電磁場(chǎng)，當(dāng)探測(cè)頭與底部的導(dǎo)體（金屬基材）接觸后，會(huì)在金屬基材上形成渦流，探測(cè)頭離導(dǎo)體（金屬基材）越近，渦流越大，反之則越小。這種渦流會(huì)對(duì)探測(cè)頭中的線圈中產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，反饋?zhàn)饔玫拇笮】梢员憩F(xiàn)出探測(cè)頭與導(dǎo)體（金屬基材）之間距離的大小，也就是導(dǎo)電金屬基材上的非導(dǎo)電覆蓋層的厚度大小。
影響渦流涂層測(cè)厚儀的測(cè)量精度因素有以下幾點(diǎn)：
影響渦流涂層測(cè)厚儀的測(cè)量精度因素有以下幾點(diǎn)：
1、覆蓋層厚度大于25μm時(shí)，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。
2、基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)。
3、任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度，只有大于這個(gè)厚度，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響。
4、渦流測(cè)厚儀對(duì)試樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng)，即對(duì)靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的。
5、試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響將隨著曲率半徑的減小明顯地增大。
6、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量精 度，粗糙程度增加，影響增大。
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