【EDX3500光譜測金機(jī)】, X熒光光譜分析儀以測試準(zhǔn)確（檢測黃金、銥金、K金、鉑金、鈀金、Cr、白銀等）、質(zhì)量穩(wěn)定、價(jià)格實(shí)在成為珠寶首飾廠、典當(dāng)行及舊金回收客戶！廠家優(yōu)惠

貴金屬純度檢測儀可以實(shí)現(xiàn)金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳等快速無損傷純度檢驗(yàn)，性能特點(diǎn)、工作原理等基本介紹。貴金屬分析儀是分析貴金屬成分組成的精密儀器，常用的有化學(xué)有損分析儀器和物理無損分析儀器。鑒于貴金屬本身價(jià)格昂貴，不能輕易破壞其外形，故化學(xué)有損檢測儀在珠寶行業(yè)不被經(jīng)常使用。而快速、無損、的無損檢測儀，廣泛應(yīng)用于珠寶首飾檢測行業(yè)。

貴金屬無損分析儀，包括兩種類型的儀器，一種是根據(jù)金屬密度來粗略估算貴金屬純度的水比重分析儀【MDJ-300K水比重測金儀】，另外一種是利用熒光光譜來分析純度的光譜分析儀。由于比重儀精度低，而自然界與貴金屬密度相接近的金屬很多，所以，當(dāng)今的珠寶界，水比重分析儀基本遭到了市場的摒棄。在此，重點(diǎn)介紹光譜貴金屬分析儀。

光譜貴金屬分析儀享有無損、快速、等特點(diǎn)，被廣泛用于首飾生產(chǎn)、加工、銷售、質(zhì)檢等部門。隨著貴金屬行業(yè)的蓬勃發(fā)展，貴金屬的業(yè)務(wù)日益增加，給貴金屬行業(yè)帶來效益的同時(shí)我們對產(chǎn)品的工藝，含量的控制越來越需要和準(zhǔn)確。近年來由于加工工藝不斷提高，各種貴金屬在市場上流通的越來越多。

技術(shù)參數(shù):

型號:          EDX7700T      EDX7700        EDX3500        EDX6000[手持式]

分析范圍 ：1ppm to 99.999 %   1ppm to 99.99 %  1ppm to 99.99 %   1ppm to 99.99 %

測量精度【Au≥90%】  RSD≤0.01%  RSD≤0.03%  RSD≤0.1%   RSD≤0.05%

測試種類       金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳

光管電壓     5KV ~ 50KV (USA)

高壓電源     0 ~ 50KV Spellman(USA) 

光管管流     0μA ~ 1000μA

攝像頭         高清攝像頭

濾光片       可選擇多種定制切換

探測器       SDD (USA)

分辨率       135±5eV

樣品腔尺寸    380*380*60（mm）

測試時(shí)間     10sec ~ 30sec

測量元素     從鈉(Na)~鈾(U)之間的所有元素（Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, Os, Ir,W等）

外部尺寸       480*480*390（mm）  重量          38Kg

儀器環(huán)境要求：環(huán)境溫度    -5°C ~ 40°C  相對濕度 15% ~ 90%

電源要求       AC 220V±5V, 50/60HZ ,附近無大功率電磁和振動干擾源

優(yōu)勢特點(diǎn):

一、儀器三大核心部件均為進(jìn)口，決定了光譜儀精度達(dá)到全國高水平即 0.01%(萬分之一) ，能的區(qū)分千足金（99.9%）和萬足金（99.99%）

二、中國*、比肩歐洲*光譜儀的“一鍵測試”模式，無論任何未知金屬物質(zhì)，操作員均無需選擇測試模版，軟件智能匹配測算方式，快速、、無損的對未知金屬進(jìn)行定性定量分析

三、儀器獲得國家*頒布的計(jì)量證書，也獲得歐盟CE認(rèn)證和美國FCC認(rèn)證，國內(nèi)獲得計(jì)量證書的光譜儀廠家

四、超長兩年免費(fèi)質(zhì)保期，信心源自純正歐洲光譜儀生產(chǎn)技術(shù)

五、有助于識別鍍金樣件的創(chuàng)新型功能

六、用戶通過高清攝像頭及艙內(nèi)照明系統(tǒng)，可以看到樣件測試位置，提升用戶對測試信心

七、配備多種光學(xué)準(zhǔn)直器，突破性的解決金絲、金線等極細(xì)微金屬樣品的測試難題

八、儀器所有零配件溫漂率控制在百萬分之一之內(nèi)，保證了儀器*穩(wěn)定性和超高度，測試結(jié)果顯示到   小數(shù)點(diǎn)之后4位數(shù)， *國產(chǎn)光譜型貴金屬分析儀

九、內(nèi)置電腦的一體化機(jī)型，無需外接電腦，觸屏操作，超流暢的體驗(yàn)感受

十、眾多珠寶鑒定機(jī)構(gòu)和大型珠寶企業(yè)，選購了科譽(yù)EDX7700T光譜測金儀

光譜小知識:

影響貴金屬無損分析儀測量結(jié)果的因素有如下幾點(diǎn)。由于首飾產(chǎn)品的特殊情況，受方法原理的限制，在使用本方法時(shí)檢測人員應(yīng)了解和熟悉以下影響結(jié)果 的因素（這些影響因素在不同情況下將對特征譜線強(qiáng)度的采集產(chǎn)生很大的影響，甚至造成誤判）：

a)被測樣品與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)所含元素組成和含量有較大的差異；

b)被測樣品的表面有鍍層或經(jīng)化學(xué)處理；

c)測量時(shí)間；d)樣品的形狀；

e)樣品測量的面積；

f)貴金屬的含量多少；

g)被測樣品的均勻程度（包括偏析和焊藥等）。