與其他無機元素分析設備相比，ICP-OES的使用方法簡單，不需要考慮過多即可取得正確的結果。然而，由于各種波長干擾，分析含有高濃度(100ppm,mg/ Kg或更多)特定元素的樣品中的雜質并不容易。為了控制或消除這種波長干擾，業(yè)內從很久以前便開始使用干擾元素校正(IEC,Inter-Element Correction)，但該方法因為根據干擾的高濃度成分的含量制造和應用IEC模型很麻煩，所以一般并不使用。珀金埃爾默ICP-OES不受高濃度基體干擾的影響,使用可控制或消除干擾的MSF(Multi-Spectral Fitting),一直適用于多種樣品，其優(yōu)異性能已經得到證實。
但是高濃度鈀(Pd)中硒(Se)的情況比較特殊，硒(Se)與鈀(Pd)的波長重合，難以使用IEC或MSF模式。由此導致硒(Se)的檢測結果比預期值高出20~50倍。本文中嘗試找出解決該問題的方法。
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