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引言

 

對(duì)于人類健康和環(huán)境安全來說，監(jiān)測單細(xì)胞對(duì)于金屬離子和納米顆粒（NPs）的攝入都是非常重要的 1-3。目前，利用 ICP-MS 對(duì)于細(xì)胞內(nèi)金屬含量的常規(guī)測定方法為：通過離心或過濾將細(xì)胞從其天然培養(yǎng)介質(zhì)中分離出來，再用新鮮介質(zhì)進(jìn)行清洗，然后用酸消解后上機(jī)檢測 4。采用這種方法可以得到一定數(shù)量細(xì)胞中金屬的總量，而無法獲得單個(gè)細(xì)胞的相關(guān)數(shù)據(jù)，單個(gè)細(xì)胞內(nèi)金屬的含量只能通過假定所有細(xì)胞內(nèi)含有的金屬顆?；螂x子濃度相同，通過計(jì)算獲得。而通過透射電子顯微鏡（TEM）5、掃描電子顯微鏡（SEM）6 或熒光示蹤法 7 的輔助表征，證明利用這種方法獲得的單細(xì)胞數(shù)據(jù)并不準(zhǔn)確。如果利用上述顯微方法對(duì)細(xì)胞攝入納米顆粒進(jìn)行表征，又存在耗時(shí)長、人為誤差大的缺點(diǎn)。而且，TEM 和 SEM 法只能定性，也容易由于納米顆粒標(biāo)示物化學(xué)性質(zhì)不穩(wěn)定而導(dǎo)致假陽性結(jié)果。

相比于這些常規(guī)方法，全新的基于單顆粒ICP-MS（SP-ICP-MS）8,9的單細(xì)胞ICP-MS（SC-ICP-MS）具有可以地對(duì)單個(gè)細(xì)胞中金屬離子或納米顆粒進(jìn)行定量的優(yōu)勢，一次性檢測的細(xì)胞數(shù)量也大于顯微鏡方法。與SP-ICP-MS類似，SC-ICP-MS是基于利用等離子體將單個(gè)細(xì)胞*離子化后對(duì)離子含量進(jìn)行測定來獲得結(jié)果的。