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產品簡介
| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
產品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量 測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器，可以進行廣動態(tài)范圍的測量 測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從250毫...
產品介紹
日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供
產品信息
特征
堅持高精度測量
量子效率（量子產率）可以瞬時測量
可以去除重新激發(fā)的熒光發(fā)射
集成半球單元實現明亮的光學系統(tǒng)
使用低雜散光多通道分光光度探測器大大減少了紫外區(qū)域的雜散光。
溫度控制功能 （50~300°C） 可實現與溫度相關的量子效率（量子產率）測量
兼容紫外到近紅外寬帶 （300~1600nm） 規(guī)格
堅持作簡便
使用專用軟件輕松作
易于安裝和拆卸樣品測量池
節(jié)省空間且設計緊湊
通過使用光譜儀型激發(fā)光源，可以選擇任意波長。
可以在軟件中激發(fā)波長和步長值的自動測量
堅持多功能性
與粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容
廣泛的分析功能
測量項目
量子效率（量子產率）測量
激發(fā)波長依賴性測量
發(fā)射光譜測量
PL 激發(fā)光譜測量
EEM（激發(fā)發(fā)射矩陣）測量
用法
測量 LED 和有機 EL 熒光粉的量子效率（量子產率）
測量薄膜狀樣品
的透射熒光和反射熒光的量子效率（量子產率），例如用于遠程熒光粉的熒光粉樣品量子點、熒光探針、生物場、包合物等的熒光測量
染料敏化太陽能電池量子效率（量子產率）的測量
復雜化合物的測定
為什么精度高？
1. 具有積分半球的理想光學元件
QE-2100 配備了一個積分半球。 與積分球（球形）相比，積分半球具有以下特點
由于非發(fā)光部件（支架等）可以暴露在外部，因此可以保持較小的自吸收，從而實現理想的光學系統(tǒng)
鏡子在同一點將照度加倍，從而實現高靈敏度測量。
樣品測量池易于安裝和拆卸，損壞積分球內部的風險很小。
2. 通過再激發(fā)熒光校正功能觀察“真實物性值"
在包含重激發(fā)熒光發(fā)射的狀態(tài)下，觀察的不是材料本身的物理性質，而是器件的特性，無法確定真正的物理性質值。 QE-2100 使用重激發(fā)熒光校正，利用積分半球的優(yōu)勢進行簡單準確的測量。
3. 低雜散光多通道光譜檢測器減少紫外區(qū)域的雜散光
常規(guī)探測器（多色儀）在紫外區(qū)域檢測到高水平雜散光，因此不適合測量量子效率（量子產率）。 大冢電子通過開發(fā)一種去除雜散光的技術解決了這個問題。 QE-2100 中安裝的多通道分光光度探測器與我們的傳統(tǒng)產品相比，雜散光量約為 1/5，即使在紫外線區(qū)域也能實現高精度測量。
日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供
