奧林巴斯可更換延遲塊測厚探頭V260-SM V260-RM V260-45
優(yōu)勢
• 強阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測量薄材料及發(fā)現(xiàn)細小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 精確測厚。
• 垂直聲束缺陷探測。
• 對接觸區(qū)域有限的工件進行檢測。
奧林巴斯可更換延遲塊測厚探頭V260-SM V260-RM V260-45
sonopen可更換延遲塊探頭
• 聚焦的可更換延遲塊。
• 探頭直徑極小的特點可以提高在曲面及小缺口上的檢測性能。
• 手柄可以方便探頭頭部的定位。
頻率 晶片尺寸 標(biāo)稱 探頭
MHz 英寸 毫米 平直手柄 直角手柄 45° 手柄
15 0.125 3 V260-SM V260-RM V260-45
SLH-V260-SM*裝有彈簧的支架，*僅與V260-SM一起使用
| Sonopen可更換延遲塊 | ||
| 探頭接觸直徑 | 工件編號 | |
| 英寸 | 毫米 | |
| 0.080 | 2.0 | DLP-3 |
| 0.060 | 1.5 | DLP-302 |
| 0.080 | 2.0 | DLP-301* |
* 高溫延遲塊可在溫度高達175°C（350°F）的情況下使用。
帶有手柄組合件的延遲塊探頭
這些探頭用于伸到空間極其狹小的區(qū)域進行探測，如：
相距很近的渦輪葉片。探頭可旋轉(zhuǎn)的頭部提高了
其在狹小區(qū)域接觸被測工件的能力。
頻率 標(biāo)稱 延遲塊長度 探頭工件編號
晶片尺寸
MHz 英寸 毫米 微秒
20 0.125 3 1.5 M2054
20 0.125 3 4.5 M2055
20 0.125 3 4.0 V2034
公司是一間專門生產(chǎn)工業(yè)上所使用的測厚儀及探傷設(shè)備. 儀器是采用超聲波技術(shù),不需將工件損壞就能作出探傷檢查或用作工件厚度或長度測量。
產(chǎn)品系列
超聲波測厚儀ZX系列 ZX-3 / ZX-5 / ZX-5DL
超聲波測厚儀ZX系列 ZX-6 / ZX-6DL
多功能精密超聲測厚儀PVX
多功能超聲測厚儀系列
A/B掃描超聲波測厚儀MVX
多功能涂層超聲測厚儀CMX
多功能涂層A/B掃描超聲測厚儀CMX DL+
MINI-MAX超聲螺栓應(yīng)力測試儀
PR-8V精密超聲測厚儀
UMX-2 超輕量式水下測厚儀
深圳市泰立儀器儀表有限公司 - 代理許多高科技儀器和設(shè)備，其中尤以無損檢測和
金相理化設(shè)備為主。包括：超聲、渦流、漏磁、磁粉、射線、金相樣、光譜等等。
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