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近年來，特別是在顯示器和照明市場，對“近紅外"測量的需求越來越大。此外，沒有能夠輕松準(zhǔn)確地測量這一點的測量儀器。在這種情況下，我們以 SR 系列光譜輻射計中培養(yǎng)的技術(shù)為基礎(chǔ)開發(fā)了“近紅外光譜輻射計 SR-NIR"。本產(chǎn)品可與 SR 系列光譜輻射儀結(jié)合使用，以測量 380 nm ~ 1030 nm 的光譜輻射度。

■ 特點

?可以測量從 FPD 發(fā)出微弱光的近紅外區(qū)域。?高精度測量近紅外區(qū)域（600~1,030nm）的光譜分布?與我們的 SR 系列分光輻射計結(jié)合使用，可以在可見光 ~ 近紅外（380 ~ 1030 nm）范圍內(nèi)進(jìn)行光譜分布測量。

■ 主要用途

?在近紅外區(qū)域觀察各種 FPD 的輸出?觀察 Ne 和 Ar 的發(fā)射線輸出?光學(xué)薄膜等的近紅外透射特性的評估?其他光源的近紅外光譜測量

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超弱近紅外區(qū)域的測量 分光輻射計 SR-NIR

關(guān)于本產(chǎn)品

■ 概述

■ 特點

■ 主要用途

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超弱近紅外區(qū)域的測量分光輻射計 SR-NIR