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日本seikou-giken厚度深度測量傳感器工業(yè)用
日本napson電阻率測試儀半導體/導電薄膜用 EC-80 特點介紹
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
一種簡單的測量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
使用 JOG 旋鈕輕松設置測量條件
測量目標
半導體能電池材料相關（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料相關（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬、ITO等）
化合物半導體相關（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
日本napson電阻率測試儀半導體/導電薄膜用 EC-80 規(guī)格參數(shù)
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
一種簡單的測量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
使用 JOG 旋鈕輕松設置測量條件
測量目標
半導體能電池材料相關（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料相關（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬、ITO等）
化合物半導體相關（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
一種簡單的測量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
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