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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>外觀分析設(shè)備>>測試儀>> EC-80P日本Napson非接觸式電阻率計(jì)便攜式測試儀
產(chǎn)品型號(hào)EC-80P
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間：2025-05-07 11:45:12瀏覽次數(shù)：668次
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日本進(jìn)口miclab燃料電池發(fā)電測試儀評(píng)估設(shè)備
日本seikou-giken厚度深度測量傳感器工業(yè)用
日東NITTOSEIKO電導(dǎo)率電阻率測試儀測量硅片
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 類型 | 其他 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
日本Napson非接觸式電阻率計(jì)便攜式測試儀 EC-80P 特點(diǎn)介紹
只需簡單接觸筆型探針即可進(jìn)行測量
可在任意位置進(jìn)行測量，不會(huì)損壞樣品
易于操作的手持探針
通過切換測量模式，調(diào)整片材電阻和電阻率
可顯示在
通過JOG撥盤輕松設(shè)定測量條件
電阻測量探頭按范圍排列
寬敞，支持廣泛的范圍
（電阻探針:最多2根+PN判定探針
同時(shí)接続可能）
探頭2~第三條是可選的。
測量光斑直徑（探針芯直徑）:
14mmΦ
日本Napson非接觸式電阻率計(jì)便攜式測試儀 EC-80P 規(guī)格參數(shù)
芯片樣品；
硅載體、化合物（GaN、GaP）、Epi、
擴(kuò)散層、SiC等
各種薄膜樣品；
半導(dǎo)體處理膜、金屬膜、ITO膜等
其他
*原則上，如果在測量范圍內(nèi)，則為
也可以用樣品進(jìn)行測量。
[電阻率] 1m 至200Ω.cm
(*所有探頭類型的總范圍/厚度500um)
[表面電阻] 10m 至3k2/sq
(*所有探頭類型的總范圍)
*有關(guān)每種探頭類型的測量范圍，請參見下文。
(1)低:0.01~0.5Ω/□(0.001~0.05Ω.cm)
(2)中:0.5~10Ω/□(0.05~0.5Ω.cm)
(3)高:10~1,000Ω/□(0.5~60Ω).cm)
(4) S-高:1,000-3,0002/□(60-200Ω.m)
(5)太陽能晶圓:5-500Ω2/□(0.2-15Ω.cm)
產(chǎn)品尺寸
·機(jī)身:W255xD275xH95mm,4kg
·探頭部分:20mmΦx80mm
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