國(guó)儀量子SEM掃描電鏡現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試
掃描電鏡是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器 。具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測(cè)樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。另外具有可測(cè)樣品種類(lèi)豐富, 幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。
目前, 掃描電鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究。
國(guó)儀量子的鎢燈絲掃描電鏡（SEM3200）是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高分辨率圖像。
↑果果儀器 SEM冷熱臺(tái)↑
果果儀器_SEM冷熱臺(tái) 是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)上（無(wú)需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測(cè)試的電鏡附件。通過(guò)外接法蘭裝置實(shí)現(xiàn)對(duì)冷熱臺(tái)上的樣品進(jìn)行控溫，穩(wěn)定后溫控精度最高可達(dá)±0.1℃ 可實(shí)現(xiàn)樣品變溫測(cè)試的溫度范圍：-185~200℃ ，滿(mǎn)足原位高低溫材料相變微觀表征。
SEM原位冷熱臺(tái)適合于各種樣品在掃描電子顯微鏡中進(jìn)行高低溫結(jié)構(gòu)研究，固定在現(xiàn)有樣品臺(tái)上。
果果儀器為國(guó)儀量子定制SEM冷熱臺(tái)，與國(guó)儀量子鎢燈絲掃描電鏡（SEM3200）配套工作，進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。
國(guó)儀量子SEM掃描電鏡-180℃～100℃測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)
溫度控制穩(wěn)定，精度±0.1℃，加熱過(guò)程中無(wú)電磁干擾
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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