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X射線能譜儀有哪些優(yōu)點(diǎn)？
X射線能譜儀相對(duì)于另一項(xiàng)常用的成分分析工具——波譜儀（WDS），有以下優(yōu)點(diǎn)：
（1）檢測(cè)效率
能譜儀中鋰漂移硅探測(cè)器對(duì)X射線發(fā)射源所張的立體角顯著大于波譜儀，所以前者可以接收到更多的X射線信號(hào)；其次波譜儀因分光晶體衍射而造成部分X射線強(qiáng)度損失。因此能譜儀的檢測(cè)效率較高。
（2）空間分析能力
能譜儀因檢測(cè)效率高，可在較小的電子束流下工作，使束斑直徑減小，空間分析能力提高。目前，在分析電鏡中的微束操作方式下能譜儀分析的最小微區(qū)已經(jīng)達(dá)到納米數(shù)量級(jí)，而波譜儀的空間分辨率僅處于微米數(shù)量級(jí)。
（3）分辨本領(lǐng)
能譜儀的最佳能量分辨本領(lǐng)為149eV，波譜儀的波長(zhǎng)分辨本領(lǐng)表述為能量的形式后相當(dāng)于5-10eV，可見波譜儀的分辨本領(lǐng)比能譜儀高一個(gè)數(shù)量級(jí)。
（4）分析速度
能譜儀可在同一時(shí)間內(nèi)對(duì)分析點(diǎn)內(nèi)的所有X射線光子的能量進(jìn)行檢測(cè)和計(jì)數(shù)，僅需幾分鐘時(shí)間可得到全譜定性分析結(jié)果；波譜儀只能逐個(gè)測(cè)定每一元素的特征波長(zhǎng)，一次全分析往往需要幾個(gè)小時(shí)。
（5）分析元素的范圍
波譜儀可以測(cè)量鈹(Be)-鈾(U)之間的所有元素，而能譜儀中Si(Li)檢測(cè)器的鈹窗口吸收超輕元素的X射線，只能分析鈉（Na）以后的元素。
（6）可靠性
能譜儀結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，沒(méi)有機(jī)械傳動(dòng)部分，數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性和重現(xiàn)性較好。波譜儀的定量分析誤差（1-5%）遠(yuǎn)小于能譜儀的定量分析誤差（2-10%）。
（7）樣品要求
波譜儀在檢測(cè)時(shí)要求樣品表面平整。能譜儀對(duì)樣品表面沒(méi)有特殊要求，適合于粗糙表面的分析。