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淺析納米激光粒度儀散射測量與篩分測量的優(yōu)缺點
納米激光粒度儀粒度分布的測量方法有很多種，如：篩分法、沉降法、圖像法、激光散射法粒、庫爾特法等。在實驗室的應用中，篩分法和激光散射法是比較常用的兩種粒徑測量手段。但是一直以來，這兩種方法測量的可比性存在較多問題。
1、納米激光粒度儀篩分法原理及優(yōu)缺點
原理：
篩分法是顆粒粒徑測量中zui為通用也zui為直觀的方法。 篩分的實現(xiàn)非常簡單: 根據(jù)不同的需要， 選擇一系列不同篩孔直徑的標準篩， 按照孔徑從小到大依次摞起。然后固定在振篩機上，選擇適當?shù)哪Ｊ郊皶r長，自動振動即可實現(xiàn)篩分; 篩分完成后，通過稱重的方式記錄下每層標準篩中得到的顆粒質(zhì)量，并由此求得以質(zhì)量分數(shù)表示的顆粒粒度分布。
優(yōu)點：
篩分法的優(yōu)點是原理簡單、直觀，操作方便，易于實現(xiàn)，這也是其獲得廣泛應用的重要原因。
缺點：
篩分法因為粒徑段的劃分受限于篩層數(shù)， 所以對粒徑分布的測量略顯粗糙，在一定程度上影響了結(jié)果的精度。另外，篩分的過程中因為振動強烈， 一些顆粒種類可能極易破損，從而破壞了粒徑分布，影響了測量結(jié)果。某些顆粒相互吸附的作用較強， 在篩分中經(jīng)常出現(xiàn)聚合成團的現(xiàn)象，這也影響了篩分結(jié)果的準確性。
2、納米激光粒度儀激光散射法原理及優(yōu)缺點
原理：
隨著工業(yè)中對粒度分布測量精度要求的提高， 激光粒度儀的應用也日益廣泛。激光粒度儀測量方法的理論依據(jù)是Fraunhofer 衍射理論和米氏光散射理論。 光照射顆粒時， 衍射和散射的情況跟光的波長及顆粒的大小有關， 顆粒大時，激光散射角度小，顆粒小時，激光散射角度大。激光束發(fā)生衍射和散射， 從而產(chǎn)生光強的空間分布變化， 光信號被光電探測器器接收并轉(zhuǎn)化為電信號，進而經(jīng)過復雜的程序計算得出顆粒粒徑分布。
優(yōu)點：
激光粒度儀測量方法具有以下優(yōu)點：測量粒徑范圍大、分辨率高、檢測速度快、重復性好。整個操作過程一般都可以 在 3-5 分鐘之內(nèi)完成。輸出結(jié)果是連續(xù)的粒徑分布數(shù)據(jù)，各種數(shù)據(jù)非常全面詳盡。
缺點：
激光粒度儀需要知道粉體樣品的折射率、吸收率等物性參數(shù)。但對于科研以及生產(chǎn)實際過程中，獲得粉體樣品的準確折射率等參數(shù)并不容易，很多粉體樣品還是混合物，這個問題影響粒度測量結(jié)果的可靠性。另外，不規(guī)則顆粒的截面積平均起來要大于相同體積的球體。因而激光粒度儀測定的不規(guī)則顆粒的直徑比相同體積的球形顆粒要大。