SediGraph 粒度儀采用柔軟的 X 射線檢測顆粒的相對濃度,它的主要原理是利用顆粒對 X 射線的吸收量,正比于顆粒質(zhì)量。
X 射線無論何時都無法照射到儀器的操作者,做到此取決于儀器內(nèi)部的設(shè)計:測量室門的密封和開閉特性。 一個機械快門機構(gòu),當(dāng)門被輕微打開 12 毫米時,立刻會激發(fā)機械快門遮擋住 X 射線進入測量室;同時儀器裝配的若干電子自鎖機構(gòu),用于切斷 X 射線源的供電。每當(dāng)測量室門,儀器蓋板被打開時,立刻發(fā)揮作用。
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