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產(chǎn)品分類 品牌分類

光催化及光敏材料測試設(shè)備

光催化專用太陽光模擬器高準直紫外光源
鈣鈦礦LED/OLED測試設(shè)備

發(fā)光效率測量系統(tǒng) 光譜分析系統(tǒng) 光電性能測量系統(tǒng)
日本SAN-EI 太陽光模擬器

LED太陽光模擬器 AAA+級雙光太陽光模擬器 AAA太陽光模擬器 150W 太陽光模擬器聚光太陽光模擬器太陽能電池IV性能測試儀太陽能電池組件測試儀太陽能電池測試多通道太陽能電池穩(wěn)定性測試 OLED模擬軟件太陽能電池穩(wěn)定性測試太陽能電池載流子測試光纖太陽光模擬器光譜響應(yīng)/量子效率量測儀全光譜太陽光模擬器太陽能電池量子效率測試系統(tǒng) AAA級太陽光模擬器雙燈太陽光模擬器穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器瞬態(tài)光電流/光電壓測試系統(tǒng) 太陽能電池載流子測試設(shè)備載流子擴散長度測試系統(tǒng)
薄膜性能測試設(shè)備

薄膜應(yīng)力測試儀薄膜熱應(yīng)力測量系統(tǒng) 薄膜生長速率測試儀薄膜/涂層殘余應(yīng)力儀電池電極應(yīng)力測試系統(tǒng) 薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng) 原位薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試系統(tǒng) kSA BandiT實時襯底溫度測試儀 kSA 400 RHEED分析系統(tǒng) 反射高能電子衍射儀 RHEED 應(yīng)力測量系統(tǒng)
共聚焦顯微鏡

電化學(xué)反應(yīng)共聚焦系統(tǒng) 三維光學(xué)共聚焦顯微鏡三維表面輪廓儀
激光光束質(zhì)量分析儀

激光質(zhì)量分析儀 UV光束分析儀 Shack-Hartmann波前傳感器 EUV/XUV波前傳感器波前曲率傳感器光熱弱吸收測量儀高功率激光材料測試儀大光斑激光光束分析儀高功率激光光束分析儀激光光束分析儀
納米材料制備設(shè)備

石墨烯制備系統(tǒng)（CVD）噴霧熱解成膜系統(tǒng) 碳納米管CVD制備系統(tǒng) 原子層沉積系統(tǒng) 卷對卷涂布系統(tǒng) 涂布機
微納米加工設(shè)備

桌面型激光直寫系統(tǒng) 臺式無掩膜光刻系統(tǒng) 納米壓印系統(tǒng)
介電/壓電材料測試設(shè)備

電卡效應(yīng)測試儀高溫介電測試系統(tǒng) 熱釋電測試儀熱刺激電流測試儀精密壓電系數(shù)測試儀高分子壓電系數(shù)測試儀高場寬頻譜介電測量系統(tǒng) 低溫寬頻介電測量系統(tǒng) 電滯回線及高壓介電擊穿強度測試系統(tǒng) 高壓漏電流及熱釋電測量系統(tǒng) 電容充放電測試儀
太陽能電池測試設(shè)備

瞬態(tài)光電壓測試瞬態(tài)光電流測試太陽能電池老化測試太陽能電池老化壽命測試儀鈣鈦礦太陽能電池測試儀太陽能電池單體測試儀太陽能電池測試夾具太陽能電池IV測試軟件
氙燈電源
高純度鈣鈦礦前驅(qū)體材料
其他相關(guān)設(shè)備

黃勁松最新Nature：自供電鈣鈦礦光子計數(shù)探測器具有更好的能量分辨率

閱讀：1196 發(fā)布時間：2023/4/7

主要內(nèi)容

金屬鹵化物鈣鈦礦(MHPs)已被成功地用于太陽能電池、發(fā)光二極管、光電探測器和太陽能燃料中，將光子轉(zhuǎn)換為電荷，反之亦然。

在這篇文章中，北卡羅來納大學(xué)黃勁松團隊展示了自供電的多晶鈣鈦礦光電探測器在光子計數(shù)方面可以與商用硅光電倍增管(SiPMs)相媲美。盡管深阱限制了電荷收集效率，但鈣鈦礦光子計數(shù)探測器(PCDs)的光子計數(shù)能力主要由淺阱決定。

在聚晶三碘化鉛甲基銨中發(fā)現(xiàn)了兩個能量深度分別為5.8±0.8(meV)和57.2±0.1 meV的淺圈閉，它們停留在晶界和表面。結(jié)果表明，二苯硫的晶粒尺寸增強和表面鈍化可以減少這些淺層圈閉。在室溫下，它極大地抑制了暗計數(shù)率(DCR)，從每秒每平方毫米>20,000次計數(shù)(cps mm-2)降低到2 cps mm-2，對弱光的響應(yīng)比SiPMs更好。該探測器實現(xiàn)了99.8%的脈沖探測概率和95±5%的內(nèi)量子效率，對于幾百到幾億入射光子。鈣鈦礦PCDs能夠以比SiPMs更好的能量分辨率收集γ射線能譜，并在高達85°C的高溫下保持性能。鈣鈦礦探測器的零偏操作使噪聲和檢測性能無漂移。這項研究利用其特性，開辟了鈣鈦礦光子計數(shù)的新應(yīng)用。