日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測(cè)量?jī)xPSA
這是一種可通過(guò)陽(yáng)離子評(píng)估亞納米級(jí)尺寸（原子水平）微小缺陷和空洞的方法。
陽(yáng)離子壽命測(cè)量方法是一種能夠使用陽(yáng)離子評(píng)估亞納米級(jí)（原子級(jí)）微小缺陷和空隙的方法。

日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測(cè)量?jī)xPSA

 

產(chǎn)品概要

• 這是一種可通過(guò)陽(yáng)離子評(píng)估亞納米級(jí)尺寸（原子水平）微小缺陷和空洞的方法。
• 陽(yáng)離子壽命測(cè)量方法是一種能夠使用陽(yáng)離子評(píng)估亞納米級(jí)（原子級(jí)）微小缺陷和空隙的方法。?

該設(shè)備的應(yīng)用示例

•  噴丸質(zhì)量檢查
• 金屬疲勞損傷評(píng)估

適用對(duì)象

•  各種金屬，例如鋼，鋁和鈦
•  非晶態(tài)材料，例如玻璃和聚合物
•  測(cè)量深度距表面（鋼鐵材料）約50μm

*與工業(yè)技術(shù)研究院共同開(kāi)發(fā)?

正電子壽命法原理

圖1是從正電子進(jìn)入金屬材料到??消失的示意圖。
正電子壽命測(cè)量方法是一種精que地測(cè)量在產(chǎn)生陽(yáng)離子時(shí)發(fā)射的γ射線與在一對(duì)電子消失時(shí)產(chǎn)生的γ射線之間的時(shí)間差（正電子壽命）的技術(shù)。
隨著材料中孔隙缺陷的增多和位錯(cuò)密度的提高，正電子壽命會(huì)增加。

人性化的測(cè)量系統(tǒng)

• 反巧合（AC）系統(tǒng)

我們已經(jīng)開(kāi)發(fā)了一種反巧合（AC）系統(tǒng)，該系統(tǒng)可區(qū)分發(fā)射到樣品另一側(cè)的正電子信號(hào)。^1）  （圖1）
通過(guò)采用交流系統(tǒng)，可以在不將輻射源與測(cè)量樣品夾在中間的情況下測(cè)量正電子壽命。因此，即使只有一個(gè)測(cè)試件，也可以進(jìn)行測(cè)量。此外，它可以安全使用，而無(wú)需麻煩地處理輻射源。
^1）  M.Yawakiki等人JJAP 50（2011）086301

• 自動(dòng)設(shè)置系統(tǒng)自動(dòng)
  配置程序中測(cè)量所需的設(shè)置。設(shè)置完成后，可以立即開(kāi)始測(cè)量，并且可以自動(dòng)執(zhí)行粗略分析。?

• 請(qǐng)使用低于規(guī)定值的密封放射源。請(qǐng)使用低于
  放射線危害防止法規(guī)定的規(guī)定值的放射源。該設(shè)備可以在一般實(shí)驗(yàn)室中使用，不需要資格認(rèn)證。

日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測(cè)量?jī)xPSA

通用規(guī)格

正電子源	Na-22（?1 MBq）
計(jì)數(shù)率	約100 cps
測(cè)量范圍	40 ns（與金屬，半導(dǎo)體和聚合物兼容）
配飾	? HDO4024（Teledyne LeCroy制造的DSO）， （HDO4024尺寸W400 x L132 x H292 [mm]） ·程序 ·筆記本電腦等。