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詳細摘要： 日本SAIKA粉體中金屬碎屑去除機WPM系列不使用磁鐵高靈敏度地檢測所有金屬。 SAIKA的傳感技術(shù)可防止金屬異物的困擾。

詳細摘要： 日本luceo日本luceo全自動應(yīng)變儀LSM-9001系列二維分布圖橫截面圖，任意設(shè)置區(qū)域的直方圖，二維分布圖3D顯示，測量結(jié)果csv保存，圖像保存。這些功能...

詳細摘要： 日本luceo全自動應(yīng)變儀LSM-9100系列內(nèi)置的 CCD 相機用于在單個像素的基礎(chǔ)上進行測量。因此，延遲的大小和慢軸取向的分布狀態(tài)可以在PC顯示器上二維顯示...

詳細摘要： 日本futaku精細零件鑒別檢查設(shè)備Clavelle Elephant開發(fā)了一種檢查設(shè)備Clavelle Elephant，該設(shè)備使用AI圖像識別傳感器來識別各...

詳細摘要： 日本futaku無損內(nèi)表面測量儀Arasamir對于醫(yī)療用分配噴嘴，如果用于預(yù)測試的樣品保留在噴嘴內(nèi)，則測試值將波動，并且無法進行準確的樣品分析。分配噴嘴所需的...

詳細摘要： 日本YAMABUN山文電氣在線激光測厚裝置NME-RM, NSM-RMPP/PS/多層/薄膜/片材的理想選擇以非接觸方式測量厚度而非基重座椅制造過程中的全寬測量...

詳細摘要： 日本filmetrics對準自動膜厚測量系統(tǒng)F60F60自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是F50的高duan機型，具有缺口檢測、自動基線功能和互鎖機制。只需將樣品放在載物臺...

詳細摘要： 日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。以過去無法想象的速度測量...

詳細摘要： 日本filmetrics臺式膜厚測量系統(tǒng)F3-CSF3-CS是測量小樣品的最佳測量系統(tǒng)。與測量臺集成的測量系統(tǒng)使其易于攜帶。只需將樣品的測量面朝下放置在載物臺上...

詳細摘要： 日本filmetrics板厚測量系統(tǒng)F3-sX可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。通過安裝最初開發(fā)的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測量高達 3 mm 的厚膜。

詳細摘要： 日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RTF10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)?？赏瑫r測量反射率和透射率，并可輕...

詳細摘要： 日本filmetrics膜厚測量系統(tǒng)F20一種行業(yè)標準、低價、多功能的臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)，已在全球安裝了 5,000 多臺。它可用于從研發(fā)到制造現(xiàn)場在線測量的...

詳細摘要： 日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211高速和可操作性短時間、無損測量是 100% 檢測的理想選擇?非破壞性測量和1秒內(nèi)100％檢查的理想選擇?使用個人計...

詳細摘要： 日本電測densoku電解膜厚儀CT-3輕巧緊湊的機身高操作性和功能性支持各種電鍍測量? 機身重量為 3.0 kg 的輕巧緊湊的機身? 可從任何電鍍范圍進行測量...

詳細摘要： 日本電測densoku電解式膜厚儀GCT-311Windows 規(guī)格，全功能可實現(xiàn)多達 5 層的多層薄膜測量- 使用個人計算機提高可操作性和增強功能 - 使用W...

詳細摘要： 日本fischer雙聯(lián)電磁式、渦流式、渦流相位式膜厚儀Fascope PMP10PHASCOPE ® PMP10 DUPLEX三種膜厚計：電磁式、渦流...

詳細摘要： 日本fischer渦流相位薄膜測厚儀Facescope PMP10PHASCOPE ® PMP10這是渦流相位型膜厚計。適用于測量表面粗糙的薄膜、螺絲...

詳細摘要： 日本fischer高性能手持式薄膜測厚儀 FMP100 / H FMP150DUALSCOPE ® FMP100 / H FMP150高性能手持式膜厚...

詳細摘要： 日本fischer電磁/渦流手持式薄膜測厚儀DUALSCOPE FMP20 / FMP40DUALSCOPE ® FMP20 / FMP40可在電磁式...

詳細摘要： 日本fischer 渦流型手持式膜厚儀IsoscopeFMP10 / FMP30ISOSCOPE ® FMP10 / FMP30渦流型手持式膜厚計。渦...