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快速溫變試和冷熱沖擊試驗(yàn)箱的區(qū)別有哪些
閱讀：1345 發(fā)布時(shí)間：2023-3-25最近，很多客戶問王工，快速溫變試驗(yàn)箱與溫度沖擊試驗(yàn)箱有什么區(qū)別？那么，今天就由深圳市普云電子有限公司給大家解說一下，這兩個(gè)環(huán)境試驗(yàn)箱在測試的差異：
一，試驗(yàn)?zāi)康纳希?/span>
1，冷熱沖擊，主要考核試件在溫度瞬間急劇變化一定次數(shù)后,檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理破壞。而快速溫變利用外加的環(huán)境應(yīng)力，使?jié)摯嬗陔娮赢a(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制程中，因不良元器件、制造工藝和其它原因等所造成的早期故障提早發(fā)生而暴露出來，給予修正和更換。
所以，快速溫變與冷熱沖擊的試驗(yàn)?zāi)康牟灰粯印?/span>
二，測試階段不同，冷熱沖擊主要在研發(fā)設(shè)計(jì)階段,試制階段，快速溫變主要在量產(chǎn)階段。
三，測試對象也不同。冷熱沖擊，主要用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，現(xiàn)在用的最多的還是電子產(chǎn)品的元器件或者組件級（如PCBA,IC）。而快速溫變，主要適用于電子產(chǎn)品的元器件級，組件級和設(shè)備級。
四，溫度變化速率要求不同。冷熱沖擊，無溫變速率指標(biāo),但要求溫度恢復(fù)時(shí)間，參考點(diǎn)一般在出風(fēng)口，國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)都要求5min以內(nèi)，越快越好；也有標(biāo)準(zhǔn)要求在產(chǎn)品表面量測，溫度恢復(fù)時(shí)間在15min以內(nèi)。而快速溫變，為了增強(qiáng)篩選效果，常見快速溫變箱建議選擇溫變速率為10~25℃/min，且溫變速率可控。
五，樣品失效模式不同。冷熱沖擊是由于材料蠕變及疲勞損傷引起的失效，也稱脆性失效。而快速溫變，由于材料疲勞引起的失效。
六，常見故障現(xiàn)象不同。冷熱沖擊的故障主要表現(xiàn)在，如零部件的變形或破裂，絕緣保護(hù)層失效，運(yùn)動部件的卡緊或松弛電氣和電子元器件的變化，快速冷凝水或結(jié)霜引起電子或機(jī)械故障。而快速溫變的主要故障表現(xiàn)在如涂層、材料或線頭上各種微裂紋擴(kuò)大；使粘結(jié)不好的接頭松馳；使螺釘連接或鉚接不當(dāng)?shù)慕宇^松馳；材料熱膨脹系數(shù)不同產(chǎn)生的變形和應(yīng)力引起的故障,使固封材料絕緣下降；使機(jī)械張力不足的壓配接頭松馳；使質(zhì)差的釬焊接觸電阻加大或造成開路；使運(yùn)動件及密封件故障。
七，如下是快速溫變和冷熱沖擊的一些常見標(biāo)準(zhǔn)，供大家參考。
冷熱沖擊常見參考標(biāo)準(zhǔn)：
JESD22-A106B
GJB-150-A
MIL-STD-810G
MIL-STD-202G
快速溫變參考標(biāo)準(zhǔn)：
JESD22-A104-b
MIL-STD-2164-85
IEC60749-25
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