主要特點(diǎn)：
1.M6 JETSTREAM不可以分析水平放置的樣品，還可以分析垂直放置的樣品。
2.在高激發(fā)強(qiáng)度以及樣品臺(tái)的快速移動(dòng)情況下，仍可實(shí)現(xiàn)快速檢測(cè)。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之內(nèi)，根據(jù)樣品結(jié)構(gòu)及所需空間分辨率調(diào)整到相應(yīng)的尺寸。
4.采用布魯克的XFlash®硅漂移探測(cè)器，該探測(cè)器具有很高的計(jì)數(shù)率能力，在很寬的計(jì)數(shù)率范圍內(nèi)擁有良好的能量分辨率。
5.電路為用戶提供X射線輻射風(fēng)險(xiǎn)防范措施。
6.超聲波測(cè)距措施可以防止儀器與被測(cè)樣品發(fā)生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移動(dòng)性，不論樣品結(jié)構(gòu)如何，它都可以很容易的準(zhǔn)確定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便于攜帶。

行業(yè)應(yīng)用：

文物分析——能夠現(xiàn)場(chǎng)原位分析樣品，使用戶免去了搬運(yùn)樣品的麻煩，同時(shí)避免了在搬運(yùn)中對(duì)文物可能造成的損壞。

地球科學(xué)——可分析大鉆芯樣或者其他礦物樣品。

 故障分析——可用于大部件樣品的缺陷篩查、不均勻性分析，以及其他感興趣的問題。