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參考價(jià)	面議

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

品牌 聯(lián)合光科
型號(hào) 760450
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
所在地 北京市

屬性

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更新時(shí)間：2024-03-29 12:50:44瀏覽次數(shù)：140評(píng)價(jià)

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產(chǎn)品分類品牌分類

測(cè)量?jī)x器

光譜分析

光學(xué)器件性能檢測(cè)儀器

光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)

光束測(cè)量

激光二極管功率計(jì)

二極管激光器LIV測(cè)試系統(tǒng)

表面缺陷測(cè)試系統(tǒng)

非接觸式測(cè)厚儀

全部產(chǎn)品列表

聯(lián)合光科

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

工作范圍在可見(jiàn)光、近紅外以及短波紅外的電子成像探測(cè)器生成的二維電子圖像在工業(yè)、國(guó)防、安全、科研、環(huán)保、醫(yī)療等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。

詳細(xì)介紹

工作范圍在可見(jiàn)光、近紅外以及短波紅外的電子成像探測(cè)器生成的二維電子圖像在工業(yè)、國(guó)防、安全、科研、環(huán)保、醫(yī)療等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。工作范圍在VIS/NIR波段的成像探測(cè)器幾乎全部基于硅材料的技術(shù)：彩色或者單色制式的CCD、 CMOS. ICCD、EMCCD、EBAPS、sCMOS等。彩色VIS/NIR探測(cè)器的工作波段只局限于可見(jiàn)光波段而單色VIS/NIR探測(cè)器的工作波段則可以達(dá)到1000nm。
InGaAs成像探測(cè)器的工作范圍在SWIR波段：非制冷類型工作在900nm-1700nm；制冷類型工作在1000nm到約2200nm以及特殊的帶寬從600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探測(cè)器在紅外波段（可到1300nm或者更長(zhǎng)）具有更高的靈敏度，目前是市場(chǎng)上的新技術(shù)。
VIT測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)可擴(kuò)展的用于測(cè)試硅成像探測(cè)器、黑硅成像探測(cè)器以及InGaAs成像探測(cè)器的測(cè)試系統(tǒng)，支持硅/黑硅/InGaAs成像探測(cè)器所有重要參數(shù)的測(cè)試。

<strong>可見(jiàn)光-短波紅外焦平面測(cè)試系統(tǒng)</strong>

VIT測(cè)試系統(tǒng)組成	VIT測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試功能
雙光源探測(cè)器控制器圖像采集卡 PC組測(cè)試軟件（DIP控制軟件，CON控制軟件，VITO測(cè)試軟件）	輻射參數(shù)：相對(duì)光譜靈敏度，量子效率，靈敏度，動(dòng)態(tài)范圍，線性度，NEI，固定圖形噪聲，非均勻性，信噪比，壞像素?cái)?shù)， 3D噪聲成像參數(shù)：調(diào)至傳遞函數(shù)，分辨率，最小可分辨對(duì)比度，視場(chǎng)