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德國DIOPTIC公司ARGOS2光學(xué)元件表面質(zhì)量檢測儀，是用特殊照明和線陣CCD掃描的方式，檢測光學(xué)元件及光纖端面的疵病的儀器，依據(jù)ISO10110-7標(biāo)準(zhǔn)，可快速準(zhǔn)確的給出測試結(jié)果，能提高樣品的測試速度和質(zhì)量?？蓹z測的樣品為光學(xué)鏡頭，平面鏡及透鏡，除檢測玻璃類型材料外，也可檢測金屬及半導(dǎo)體表面的質(zhì)量缺陷。可檢測的缺陷類型為鍍膜孔，邊緣裂縫，坑孔和劃痕?？蓴U(kuò)展的選項為氣流去除灰塵，真空電動聚焦軸，自動聚焦（針對圓形元件），2軸依次掃描，擴(kuò)展精神技術(shù)（EDOF）和自動上下料功能，能有效的提高檢測效率。

ARGOS光學(xué)元件表面檢測根據(jù)ISO 10110-7 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行質(zhì)量檢測，能顯著減輕質(zhì)檢員費時、費力進(jìn)行表面缺陷檢驗的工作 質(zhì)檢員可通過測試結(jié)果，給出生產(chǎn)線上的糾正錯誤，提高測試樣品質(zhì)量。

產(chǎn)品特點 

• 快速檢驗整個表面

• 提高產(chǎn)出和品質(zhì)

• 符合ISO 10110-7文件標(biāo)準(zhǔn)

 

選項	測試和驗證	缺陷類型	便于使用
氣流去除灰塵	鏡頭（透鏡）	麻點	通用夾具
真空電動聚焦軸	平面鏡	劃痕	桌面式觸摸屏
自動聚焦（圓形元件）	鏡片（反射鏡）	邊緣裂縫	人機(jī)工程學(xué)界面
2軸依次掃描		鍍膜孔
EDOF （擴(kuò)展景深）
自動上下料

典型缺陷

（從左到右）麻點 / 長劃痕 / 密集缺陷 / 崩邊

玻璃上由聚焦離子束導(dǎo)致的缺陷參考

校準(zhǔn)